[发明专利]分析读数装置及分析读数方法无效
| 申请号： | 201110223580.7 | 申请日： | 2011-08-05 |
| 公开（公告）号： | CN102323215A | 公开（公告）日： | 2012-01-18 |
| 发明（设计）人： | 王继华;王治才 | 申请（专利权）人： | 广州万孚生物技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/17 | 分类号： | G01N21/17;G01N21/27;G01N21/01 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 曾旻辉 |
| 地址： | 510663 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种分析读数装置及分析读数方法，用于对化验检测的测试条进行读数和分析，该测试条上设有检测区和空白区，该分析读数装置包括光电检测电路和处理器，该光电检测电路包括：至少两个光源，与所述测试条的测试区和空白区位置相应，能够发出与所述测试条的测试区和空白区相应的光；和至少一个光检测器，光检测器接收来自两个区域的反射光线；所述至少两个光源所发出的光照射到测试条的测试区和空白区，并反射经由所述光检测器接收，然后反馈检测信息给处理器。分析读数方法：处理器根据时序设计分别控制至少两个光源分别点亮，光线照射在测试条的空白区和测试区后，经反射由光检测器接收，然后反馈检测信息给处理器，处理器根据所接收的检测信息进行分析和判定。本发明分析读数装置及分析读数方法，读数干扰少，精确度高。 | ||
| 搜索关键词： | 分析 读数 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种分析读数装置，用于对化验检测的测试条进行读数和分析，该测试条上设有检测区和空白区，该分析读数装置包括光电检测电路和处理器，所述光电检测电路对检测区和空白区的光反射强度信号进行检测，并反馈检测信息给处理器，其特征在于，该光电检测电路包括：至少两个光源，与所述测试条的测试区和空白区位置相应，能够发出与所述测试条的测试区和空白区相应的光；和至少一个光检测器，光检测器接收来自两个区域的反射光线；所述至少两个光源所发出的光照射到测试条的测试区和空白区，并反射经由所述光检测器接收，然后反馈检测信息给处理器。
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