[发明专利]LED晶粒生产设备的校正方法有效
| 申请号： | 201110146864.0 | 申请日： | 2011-06-01 |
| 公开（公告）号： | CN102214741A | 公开（公告）日： | 2011-10-12 |
| 发明（设计）人： | 姜敏;李蛟;徐亚兵 | 申请（专利权）人： | 湘能华磊光电股份有限公司 |
| 主分类号： | H01L33/00 | 分类号： | H01L33/00;G01R31/26;G01M11/02 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 吴贵明 |
| 地址： | 423038 湖*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种LED晶粒生产设备的校正方法。该校正方法包括以下步骤：制作多个校正晶粒；采用标准机台测试出各校正晶粒的特性数据x；采用生产机台测试出各校正晶粒的特性数据y；根据各校正晶粒所得的特性数据拟合特性曲线，并根据特性曲线调整生产机台的操作参数，使得各校正晶粒的特性曲线满足线性方程y＝mx+b，其中，m为0.8～1；特性数据包括主波长数据和光强数据。应用本发明的技术方案，极大的减少了工作量，提高了工作效率，且产品数据的一致性好。 | ||
| 搜索关键词： | led 晶粒 生产 设备 校正 方法 | ||
【主权项】：
一种LED晶粒生产设备的校正方法，其特征在于，包括以下步骤：制作多个校正晶粒；采用标准机台测试出各所述校正晶粒的特性数据x；采用生产机台测试出各所述校正晶粒的特性数据y；根据各校正晶粒所得的特性数据拟合特性曲线，并根据所述特性曲线调整所述生产机台的操作参数，使得各校正晶粒的所述特性曲线满足线性方程y＝mx+b，其中，m为0.8～1；所述特性数据包括主波长数据和光强数据。
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