[发明专利]硅基Al2O3薄膜芯片电容器及制作方法有效

专利信息
申请号: 201010590616.0 申请日: 2010-12-15
公开(公告)号: CN102117699A 公开(公告)日: 2011-07-06
发明(设计)人: 王伟;孙晓玮;谈惠祖;周健;孙浩 申请(专利权)人: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
主分类号: H01G4/002 分类号: H01G4/002;H01G4/005;H01G4/008;H01G4/06;H01G4/10;H01G4/33
代理公司: 上海智信专利代理有限公司 31002 代理人: 潘振甦
地址: 200050 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种硅基Al2O3薄膜芯片电容器,可用于微波和射频电路中,起旁路和滤波作用。该芯片电容器包括低阻(电阻率≤1×10-3Ω·cm)硅衬底、非晶Al2O3绝缘薄膜、上电极、下电极四层结构。采用射频磁控溅射法,以高纯Al2O3陶瓷为靶材,在单晶Si衬底生长Al2O3非晶绝缘薄膜,接着在薄膜表面溅射生长Ti或TiW层和Au层,再经电镀Au加厚后,通过光刻、腐蚀的方法制作上电极图形,根据芯片电容厚度的要求对Si片背面减薄,在背面溅射Ti或TiW层和Au层作为下电极,划片后制作成芯片电容。该电容具用高Q值、损耗小、结构与工艺简单、成本低廉、尺寸小等优点。
搜索关键词: 硅基 al sub 薄膜 芯片 电容器 制作方法
【主权项】:
一种硅基Al2O3薄膜芯片电容器,其特征在于所述的芯片电容器依次包括低阻硅衬底、Al2O3绝缘介质薄膜、上电极和下电极四层结构,构建成金属‑绝缘体‑金属的结构;其中,①所述的低阻硅衬底的电阻率小于或等于1×10‑3Ω·cm;②所述的Al2O3介质薄膜为非晶Al2O3薄膜;③所述的上电极采用溅射或电子束蒸发生长Ti或TiW和Au,并通过电镀Au加厚到3~5μm。
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