[发明专利]基于原子气体样品池内表面反射的饱和吸收谱方法及其装置无效
| 申请号： | 201010295375.7 | 申请日： | 2010-09-27 |
| 公开（公告）号： | CN101995384A | 公开（公告）日： | 2011-03-30 |
| 发明（设计）人： | 黄凯凯;章显;陆璇辉 | 申请（专利权）人： | 浙江大学 |
| 主分类号： | G01N21/31 | 分类号： | G01N21/31 |
| 代理公司： | 杭州求是专利事务所有限公司 33200 | 代理人： | 张法高 |
| 地址： | 310027 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于原子气体样品池内表面反射的饱和吸收谱方法及其装置。原子气体样品池的后内表面和前内表面对激光光束先后产生2次部分反射，其中后内表面的部分反射称为第一次反射，前内表面的部分反射称为第二次反射，使得入射激光光束与第一次反射激光光束在原子气体样品池中发生重叠，从而产生原子气体样品对激光的饱和吸收，第二次反射激光光束与直接透过原子样品池的激光光束一起射入光电探测器，光电探测器探出第二次反射激光的饱和吸收光谱信号并在示波器上显示。本发明明显简化了传统的饱和吸收谱技术的装置，并有助于提高谱线的长期稳定性。本发明适用于各种气体原子的吸收光谱技术领域。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 原子 气体 样品 表面 反射 饱和 吸收 方法 及其 装置 | ||
【主权项】：
一种基于原子气体样品池内表面反射的饱和吸收谱方法，其特征在于：原子气体样品池的后内表面和前内表面对激光光束先后产生2次部分反射，其中后内表面的部分反射称为第一次反射，前内表面的部分反射称为第二次反射，使得入射激光光束与第一次反射激光光束在原子气体样品池中发生重叠，从而产生原子气体样品对激光的饱和吸收，第二次反射激光光束与直接透过原子样品池的激光光束一起射入光电探测器，光电探测器探出第二次反射激光的饱和吸收光谱信号并在示波器上显示。
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