[发明专利]三维芯片装置及三维芯片之递减式层识别编号检测电路无效
申请号: | 201010282451.0 | 申请日: | 2010-09-14 |
公开(公告)号: | CN102315204A | 公开(公告)日: | 2012-01-11 |
发明(设计)人: | 陈铭斌;张孟凡;吴威震 | 申请(专利权)人: | 张孟凡 |
主分类号: | H01L25/065 | 分类号: | H01L25/065;G06F7/50 |
代理公司: | 北京挺立专利事务所 11265 | 代理人: | 叶树明 |
地址: | 中国台湾台中市南*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明系关于一种三维芯片装置,系以复数个相同或不同类型之芯片堆栈而成,其包含:复数个减量电路,其依照顺序串联连接,以执行减1运算,用以运算三维芯片装置芯片之输入值,并将三维芯片装置之每一堆栈芯片之层识别编号输出;以及复数个凸块,其耦合于三维芯片装置之每一堆栈芯片。其中,所述之层识别编号系以N位之组合表示,将满足M≤2N关系之M个以分配该层识别编号的M个半导体芯片准予以堆栈。 | ||
搜索关键词: | 三维 芯片 装置 递减 识别 编号 检测 电路 | ||
【主权项】:
一种三维芯片装置,由复数个芯片堆栈,其特征在于包含:复数个减量电路,其依序连接,以执行减1运算,其用以运算三维芯片装置芯片之输入值,并将三维芯片装置之每一芯片层之层识别编号输出;以及复数个凸块,其耦合于三维芯片装置之每一芯片层;其中,该层识别编号系以N位之组合表示,将满足M≤2N关系之M个以分配该层识别编号的M个半导体芯片准予以堆栈。
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