[发明专利]一种异质结太阳电池及其制备方法有效
申请号: | 201010213233.1 | 申请日: | 2010-06-29 |
公开(公告)号: | CN101882642A | 公开(公告)日: | 2010-11-10 |
发明(设计)人: | 丁建宁;袁宁一 | 申请(专利权)人: | 常州大学 |
主分类号: | H01L31/065 | 分类号: | H01L31/065;H01L31/072;H01L31/20;H01L31/0224 |
代理公司: | 南京知识律师事务所 32207 | 代理人: | 汪旭东 |
地址: | 213164 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明涉及一种异质结太阳电池及其制备方法,特指利用带隙变化的纳米晶-非晶两相薄膜材料和单晶硅制备异质结太阳电池。属于太阳能电池器件制备技术领域。本发明的特点是利用纳米晶-非晶两相硅薄膜和P型体硅制造硅基异质结太阳电池。纳米晶-非晶两相硅的带隙高于体硅的带隙(1.12eV),所以异质结的开路电压得到提高,另一方面,纳米晶-非晶两相硅的带隙从1.3eV变化到1.8eV,由于带隙是渐变的,p型体硅和纳米晶-非晶两相硅之间的能带缓慢变化,提高了短路电流和填充因子。硅基薄膜层利用了较厚本征纳米晶-非晶两相硅和极薄的n型纳米晶-非晶两相硅的组合,进一步降低了电子-空穴在纳米晶-非晶两相硅层中的复合概率,从而提高短路电流。 | ||
搜索关键词: | 一种 异质结 太阳电池 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种异质结太阳电池,其特征在于:所述异质结电池结构从上至下依次为:ITO上电极、SiNx减反膜、n型纳米晶-非晶两相硅薄膜、本征纳米晶-非晶两相硅薄膜、p型单晶硅、氧化铝薄膜和Al电极;代替单一带隙硅基薄膜的本征纳米晶-非晶两相硅薄膜的带隙变化范围为1.3~1.8eV;本征纳米晶-非晶两相硅薄膜、n型纳米晶-非晶两相硅薄膜与单晶硅形成异质结构;本征纳米晶-非晶两相硅薄膜厚度30~100nm,n型纳米晶-非晶两相硅薄膜厚度5~20nm。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
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