[发明专利]一种异质结太阳电池及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201010213233.1 申请日: 2010-06-29
公开(公告)号: CN101882642A 公开(公告)日: 2010-11-10
发明(设计)人: 丁建宁;袁宁一 申请(专利权)人: 常州大学
主分类号: H01L31/065 分类号: H01L31/065;H01L31/072;H01L31/20;H01L31/0224
代理公司: 南京知识律师事务所 32207 代理人: 汪旭东
地址: 213164 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明涉及一种异质结太阳电池及其制备方法,特指利用带隙变化的纳米晶-非晶两相薄膜材料和单晶硅制备异质结太阳电池。属于太阳能电池器件制备技术领域。本发明的特点是利用纳米晶-非晶两相硅薄膜和P型体硅制造硅基异质结太阳电池。纳米晶-非晶两相硅的带隙高于体硅的带隙(1.12eV),所以异质结的开路电压得到提高,另一方面,纳米晶-非晶两相硅的带隙从1.3eV变化到1.8eV,由于带隙是渐变的,p型体硅和纳米晶-非晶两相硅之间的能带缓慢变化,提高了短路电流和填充因子。硅基薄膜层利用了较厚本征纳米晶-非晶两相硅和极薄的n型纳米晶-非晶两相硅的组合,进一步降低了电子-空穴在纳米晶-非晶两相硅层中的复合概率,从而提高短路电流。
搜索关键词: 一种 异质结 太阳电池 及其 制备 方法
【主权项】:
一种异质结太阳电池,其特征在于:所述异质结电池结构从上至下依次为:ITO上电极、SiNx减反膜、n型纳米晶-非晶两相硅薄膜、本征纳米晶-非晶两相硅薄膜、p型单晶硅、氧化铝薄膜和Al电极;代替单一带隙硅基薄膜的本征纳米晶-非晶两相硅薄膜的带隙变化范围为1.3~1.8eV;本征纳米晶-非晶两相硅薄膜、n型纳米晶-非晶两相硅薄膜与单晶硅形成异质结构;本征纳米晶-非晶两相硅薄膜厚度30~100nm,n型纳米晶-非晶两相硅薄膜厚度5~20nm。
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