[发明专利]可检测椭圆孔位置度的综合检具有效
| 申请号： | 201010191646.4 | 申请日： | 2010-05-31 |
| 公开（公告）号： | CN101865640A | 公开（公告）日： | 2010-10-20 |
| 发明（设计）人： | 李维明;李四娣;周国成 | 申请（专利权）人： | 广东鸿特精密技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B5/00 | 分类号： | G01B5/00 |
| 代理公司： | 广州新诺专利商标事务所有限公司 44100 | 代理人： | 华辉 |
| 地址： | 526070 *** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种可检测椭圆孔位置度的综合检具，包括支承底座，所述支承底座上设置有定位夹持装置、椭圆孔测量装置和圆孔测量装置。本发明的有益效果为：1、能够检测多个孔位置度，速度较三座标有很大的提高，能够满足生产现场大批量检测需要，提高了经济效率；2、能够模拟装配，避免了高精度的三座标对尺寸轻微超差而装配完全合格的产品的错判；3、能够检测椭圆孔位置度，而且结构设计合理，能够保证高精度的检测；4、采用了避空槽，提高了测量精度并能减少导程部与方形凹槽的磨损，提高了量棒的寿命，同时采用底座和顶盖的独立加工精密配合，提高了量棒的加工质量及测量精度；5、采用行程螺纹销钉，使检测操作更简捷，避免了量棒拉出脱落，减少了测头的碰伤，节约成本。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 椭圆 位置 综合 | ||
【主权项】：
一种可检测椭圆孔位置度的综合检具，包括支承底座，其特征在于：所述支承底座上设置有定位夹持装置、椭圆孔测量装置和圆孔测量装置。
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