[发明专利]一种提高长焦距平行光管焦距检测精度的方法无效

专利信息
申请号: 201010179464.5 申请日: 2010-05-24
公开(公告)号: CN101852677A 公开(公告)日: 2010-10-06
发明(设计)人: 吴国栋 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 长春菁华专利商标代理事务所 22210 代理人: 刘树清
地址: 130033 吉*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 一种提高长焦距平行光管焦距检测精度的方法,属于光学检测技术领域,涉及的平行光管焦距检测的方法。要解决的技术问题是:提供一种提高长焦距平行光管焦距检测精度的方法。解决技术问题的技术方案:首先,要建立一套长焦距平行光管焦距测试装置系统;其次,调整分划板的位置;第三,进行测试;第四,数据处理。改变了瞄准方式,提高了瞄准精度,这样可以使长焦距平行光管焦距的测量精度提高3倍,本发明方法也可以适用于其它长焦距光学系统的焦距检测。
搜索关键词: 一种 提高 焦距 平行 检测 精度 方法
【主权项】:
一种提高长焦距平行光管焦距检测精度的方法,是通过建立一套长焦距平行光管焦距测试装置系统实现的;其特征在于:首先,要建立一套长焦距平行光管焦距测试装置系统,包括自准直经纬仪(5)、待检的长焦距平行光管(6)、分划板(7)、读数显微镜(8)、摄像机(9)和显示器(10),将上述设备自右至左依次放置在光学平台(11)上;自准直经纬仪(5)应位于待检的长焦距平行光管(6)的通光孔径之内,分划板(7)要安放到待检的长焦距平行光管(6)的焦面位置,读数显微镜(8)和摄像机(9)同轴,摄像机(9)通过数据线与监视器(10)连接;读数显微镜(8)瞄准分划板(7)上的刻线A或B,分划板(7)上的刻线A、B间的距离要事先精密测试,测试应在温度20℃±3℃,湿度40%~70%,温湿度可控的光学检测实验室进行;其次,调整分划板(7)的位置,用自准直法,将分划板(7)上的刻线A、B精确的调到待检长焦距平行光管(6)的焦面上,在待检长焦距平行光管(6)前方安放自准直经纬仪(5),调平自准直经纬仪(5),瞄准长焦距平行光管(6)焦面,并对分划板(7)调焦使分划板(7)上的刻线A和B的像清晰地成在自准直经纬仪(5)的分划面上;第三,进行测试,打开自准直经纬仪(5)的自准直灯光源,利用读数显微镜(8)和摄像机(9),在显示器(10)上观察分划板(7)的刻线A和自准直经纬仪(5)的亮十字丝是否对准,如果没有对准,再转动自准直经纬仪(5),使自准直经纬仪(5)的亮十字丝对准分划板(7)的刻线A,读取度盘的第一次角度读数;转动自准直经纬仪(5),平移读数显微镜(8)和摄像机(9),在显示器(10)上观察分划板(7)的刻线B和自准直经纬仪(5)的亮十字丝是否对准,如果没有对准,再转动自准直经纬仪(5),使自准直经纬仪(5)的亮十字丝对准分划板(7)的刻线B,读取度盘的第二次角度读数。两次读数之差即为所测角的2ω值;第四,数据处理,将已知的A和B的刻划间隔2y值与测得的2ω值带入焦距计算公式f′=y/tgω即可求得焦距值。
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