[发明专利]采用补偿方式提高性能的采样保持电路

摘要

采用补偿方式提高性能的采样保持电路，由采样单元与补偿单元组成，其中补偿单元包括补偿电源、补偿电容、控制开关、控制时钟等。补偿时通过设定、改变补偿电源或补偿电容的相应值即可改变误差补偿电压，容易控制补偿范围和补偿步长精度，具有实施方便、灵活可调的特点。本发明在采样保持阶段对电路实施精度补偿，分离了电路补偿过程与信号采样过程，在不显著影响电路速度的条件下完成对电路精度的补偿，实现了高速度、高精度的开环式采样保持电路。

主权项

采用补偿方式提高性能的采样保持电路，包括由晶体管M1和电容CS构成的采样单元(32)，晶体管M1的源极端接待采样信号，晶体管M1的栅极端接时钟控制信号Ph1，晶体管M1的漏极端接电容CS的一端，电容CS的另一端接参考电位，晶体管M1的漏极端和电容CS的公共端作为采样单元(32)的输出端(11)，其特征在于：还包括补偿单元(30)，所述补偿单元(30)包括补偿电容C1、补偿电源VS1、开关S1、开关S2以及时钟控制信号Ph1与Ph2，补偿电源VS1的输出电压VC经开关S2、开关S1接至参考电位，补偿电容C1的一端接至开关S1和开关S2的公共端(12)，补偿电容C1的另一端接至采样单元(32)的输出端(11)；开关S1受时钟控制信号Ph1控制，开关S2受时钟控制信号Ph1的反信号Ph2控制，采样阶段，时钟控制信号Ph1有效，晶体管M1导通，开关S1闭合，开关S2断开，保持阶段，时钟控制信号Ph2有效，晶体管M1截止，开关S1断开，开关S2闭合。