[发明专利]光学测量设备无效
| 申请号： | 201010110472.4 | 申请日： | 2010-02-03 |
| 公开（公告）号： | CN101769721A | 公开（公告）日： | 2010-07-07 |
| 发明（设计）人： | 谢孟颖;余威征;何孝恒;张谦成;陈志升;张玉清 | 申请（专利权）人： | 隆达电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/06 | 分类号： | G01B11/06 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人： | 梁挥;祁建国 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明公开一种光学测量设备，用于测量至少一个待测件的厚度，此光学测量设备包括基座、光学测量模块、转动件及控制模块。光学测量模块及转动件均配置于基座上。转动件用于承载待测件并带动待测件转动。控制模块配置于基座上且电性连接至光学测量模块及转动件。控制模块适于控制光学测量模块与转动件相对移动，使光学测量模块对准待测件，并控制转动件转动，以测量待测件的厚度。上述光学测量设备可提高测量精准度及效率。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 测量 设备 | ||
【主权项】：
一种光学测量设备，用于测量至少一待测件的厚度，其特征在于，该光学测量设备包括：一基座；一光学测量模块，配置于该基座上；一转动件，配置于该基座上，该转动件用于承载该待测件，并带动该待测件转动；以及一控制模块，配置于该基座上，且电性连接至该光学测量模块及该转动件，该控制模块适于控制该光学测量模块与该转动件相对移动，使该光学测量模块对准该待测件，并控制该转动件转动，以测量该待测件的该厚度。
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