[发明专利]一种基于磁真空泄漏原理的漏磁检测方法及其装置无效

专利信息
申请号: 201010102557.8 申请日: 2010-01-29
公开(公告)号: CN101776643A 公开(公告)日: 2010-07-14
发明(设计)人: 康宜华;孙燕华 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: G01N27/83 分类号: G01N27/83
代理公司: 华中科技大学专利中心 42201 代理人: 曹葆青
地址: 430074湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种基于磁真空泄漏原理的漏磁检测方法及其装置。该方法为①将待检测导磁构件磁化;②在上述被磁化的导磁构件外围,剔除已有背景磁场,形成磁真空区域;③采用磁敏元件布置于磁真空区域,拾取无磁压缩效应的缺陷漏磁场并转化为电压信号,如果电压信号中存在突变,则说明待检测导磁构件中存在缺陷,否则无缺陷。装置采用穿过式线圈、磁屏蔽块和磁敏霍尔元件实现。本发明增大了缺陷漏磁场,从而增大了磁性探头的探测提离距离,解决了传统接触式探靴检测时的不足问题。还消除了一直存在的由背景磁场所导致的元件磁饱和不工作现象和磁噪声,提高了检出信号的信噪比,同时由磁压缩效应所导致的漏磁场失真得到修正。
搜索关键词: 一种 基于 真空 泄漏 原理 检测 方法 及其 装置
【主权项】:
一种基于磁真空泄漏原理的漏磁检测方法,该方法步骤包括:第1步、将待检测导磁构件磁化;第2步、在上述被磁化的导磁构件外围,剔除已有背景磁场,形成磁真空区域;第3步、采用磁敏元件布置于磁真空区域,拾取无磁压缩效应的缺陷漏磁场并转化为电压信号,如果电压信号中存在突变,则说明待检测导磁构件1中存在缺陷,否则无缺陷。
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