[发明专利]测量阻抗的方法和设备在审
| 申请号： | 200910166921.4 | 申请日： | 2009-07-01 |
| 公开（公告）号： | CN101685116A | 公开（公告）日： | 2010-03-31 |
| 发明（设计）人： | A·兰塔拉 | 申请（专利权）人： | 芬兰技术研究中心 |
| 主分类号： | G01R27/02 | 分类号： | G01R27/02;G01N5/02 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 张雪梅;徐予红 |
| 地址： | 芬兰*** | 国省代码： | 芬兰;FI |
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| 摘要： | 本发明涉及测量阻抗的方法和设备。本发明涉及一种用于确定可变阻抗部件的阻抗的方法和系统以及微芯片。该方法包括在预定调谐范围内调谐可调振荡器，可调振荡器具有作为其负载耦合的该可变阻抗部件。测量作为所述调谐的函数的可调振荡器的频率响应。最后，分析测量的频率响应，以确定可变阻抗部件的阻抗。本发明使得制造更小和更简单的单片传感器微芯片成为可能。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 阻抗 方法 设备 | ||
【主权项】：
1、一种用于确定可变阻抗部件的阻抗的方法，其包括：-在预定调谐范围内调谐可调振荡器，所述可调振荡器具有作为其负载耦合的所述可变阻抗部件，-测量作为所述调谐的函数的该可调振荡器的频率响应，以及-分析测量的频率响应，以确定该可变阻抗部件的阻抗。
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