[发明专利]亚阈值CMOS温度检测器有效

专利信息
申请号: 200910142600.0 申请日: 2009-07-03
公开(公告)号: CN101943613A 公开(公告)日: 2011-01-12
发明(设计)人: 郭书苞;金杰;孙振国;田磊;吴晓闻 申请(专利权)人: 飞思卡尔半导体公司
主分类号: G01K7/01 分类号: G01K7/01
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 刘光明;穆德骏
地址: 美国得*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明提供一种亚阈值CMOS温度检测器。CMOS温度检测电路包括用于生成启动电压(VN)的启动电路,以及耦合至该启动电路用于生成PTAT电流的与绝对温度成比例(PTAT)电流发生器。该启动电压导通PTAT电流发生器,并且PTAT电流发生器利用CMOS的亚阈值特性来生成PTAT电流。耦合至PTAT电流发生器的PTAT电压发生器接收PTAT电流,并且生成PTAT电压,以及反向PTAT电压(VBE)。耦合至该电压发生器的比较器电路将该反向PTAT电压与利用生成的PTAT电压来定义的第一和第二报警界限相比较,并且基于该比较结果,生成报警信号。
搜索关键词: 阈值 cmos 温度 检测器
【主权项】:
一种CMOS温度检测电路,包括:启动电路,所述启动电路用于生成启动电压;与绝对温度成比例(PTAT)电流发生器,所述PTAT电流发生器利用CMOS技术形成,耦合至所述启动电路,用于生成PTAT电流,其中,所述启动电压导通所述PTAT电流发生器,并且其中,所述PTAT电流发生器利用CMOS技术的亚阈值特性来生成所述PTAT电流;PTAT电压发生器,所述PTAT电压发生器耦合至所述PTAT电流发生器,接收所述PTAT电流并且生成反向PTAT电压(VBE)和PTAT电压,其中,从所述PTAT电压得出第一和第二报警值;以及比较器电路,所述比较器电路耦合至所述电压发生器,用于将所述PTAT电压分别与所述第一和第二报警值相比较,并且基于比较结果,生成报警信号。
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