[发明专利]氮化镓基雪崩型探测器及其制作方法无效
申请号: | 200910077383.1 | 申请日: | 2009-02-19 |
公开(公告)号: | CN101814537A | 公开(公告)日: | 2010-08-25 |
发明(设计)人: | 刘文宝;孙苋;赵德刚;刘宗顺;张书明;朱建军;王辉;杨辉 | 申请(专利权)人: | 中国科学院半导体研究所 |
主分类号: | H01L31/0352 | 分类号: | H01L31/0352;H01L31/107;H01L31/20 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 汤保平 |
地址: | 100083 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 一种氮化镓基雪崩型探测器及其制作方法,其中该氮化镓基雪崩型探测器包括:一衬底;一N型掺杂的GaN欧姆接触层制作在衬底上;一非故意掺杂GaN吸收层制作在N型掺杂的GaN欧姆接触层上,该非故意掺杂GaN吸收层的面积小于N型掺杂的GaN欧姆接触层的面积;一N型掺杂的Al组分渐变的AlGaN层制作在非故意掺杂的GaN吸收层上;一非故意掺杂AlGaN雪崩倍增层制作在N型掺杂的Al组分渐变的AlGaN层上;一P型掺杂的AlGaN欧姆接触层制作在非故意掺杂AlGaN雪崩倍增层上;一N型欧姆接触电极制作在N型掺杂的GaN欧姆接触层上;一P型欧姆接触电极制作在P型掺杂的AlGaN欧姆接触层上。 | ||
搜索关键词: | 氮化 雪崩 探测器 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
一种氮化镓基雪崩型探测器,其特征在于,包括:一衬底;一N型掺杂的GaN欧姆接触层,该N型掺杂的GaN欧姆接触层制作在衬底上;一非故意掺杂GaN吸收层,该非故意掺杂GaN吸收层制作在N型掺杂的GaN欧姆接触层上,该非故意掺杂GaN吸收层的面积小于N型掺杂的GaN欧姆接触层的面积;一N型掺杂的Al组分渐变的AlGaN层,该N型Al组分渐变的AlGaN层制作在非故意掺杂的GaN吸收层上;一非故意掺杂AlGaN雪崩倍增层,非故意掺杂AlGaN雪崩倍增层制作在N型掺杂的Al组分渐变的AlGaN层上;一P型掺杂的AlGaN欧姆接触层,该P型掺杂的AlGaN欧姆接触层制作在非故意掺杂AlGaN雪崩倍增层上;一钝化层,该钝化层制作在非故意掺杂GaN吸收层、N型掺杂的Al组分渐变的AlGaN层、非故意掺杂AlGaN雪崩倍增层以及P型掺杂的AlGaN欧姆接触层的侧面;一N型欧姆接触电极,该N型欧姆接触电极制作在钝化层的外侧且位于N型掺杂的GaN欧姆接触层上;一P型欧姆接触电极,该P型欧姆接触电极制作在P型掺杂的AlGaN欧姆接触层上。
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H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
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