[实用新型]一种掩膜版有效
申请号: | 200820147200.X | 申请日: | 2008-09-05 |
公开(公告)号: | CN201237695Y | 公开(公告)日: | 2009-05-13 |
发明(设计)人: | 李跃松;苏利刚 | 申请(专利权)人: | 清溢精密光电(深圳)有限公司 |
主分类号: | G03F1/14 | 分类号: | G03F1/14;G03F1/00 |
代理公司: | 深圳中一专利商标事务所 | 代理人: | 张全文 |
地址: | 518057广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本实用新型适用于半导体光刻显影技术领域,提供了一种掩膜版,所述掩膜版具有一显影精度控制图标,所述显影精度控制图标包含有第一组刻度标记,第一组刻度标记由一组刻度标记图案组成,第一组刻度标记中的各个刻度标记图案的线宽依次呈递增或递减变化,第一组刻度标记中的每个刻度标记图案的线宽均匀。本实用新型通过在掩膜版上制作一显影精度控制图标,该显影精度控制图标中包含有一组刻度标记,每组刻度标记由线宽呈递增或递减顺序变化且线宽均匀的刻度标记图案组成,通过监控该刻度标记中刻度标记图案的显影程度实现控制显影精度,而不再需要根据显影液浓度的变化对显影时间进行控制或维持显影液的浓度恒定,实现简单且缓解了成本压力。 | ||
搜索关键词: | 一种 掩膜版 | ||
【主权项】:
1、一种掩膜版,其特征在于,所述掩膜版具有一显影精度控制图标,所述显影精度控制图标包含有第一组刻度标记,所述第一组刻度标记由一组刻度标记图案组成,所述第一组刻度标记中的各个刻度标记图案的线宽依次呈递增或递减变化,所述第一组刻度标记中的每个刻度标记图案的线宽均匀。
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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