[发明专利]试样分析仪及试样分析方法有效
| 申请号： | 200810210896.0 | 申请日： | 2008-08-25 |
| 公开（公告）号： | CN101382485A | 公开（公告）日： | 2009-03-11 |
| 发明（设计）人： | 植野邦男 | 申请（专利权）人： | 希森美康株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/01 | 分类号： | G01N21/01;G01N33/48;G01N15/14;H01S5/06 |
| 代理公司： | 北京金之桥知识产权代理有限公司 | 代理人： | 梁朝玉;刘良勇 |
| 地址： | 日本兵库县神户市*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种能够自动稳定地使激光二极管多模发振的试样分析仪，包括：向试样照射激光的LD激光二极管501d、检测LD501d发光量的PD光电二极管501e、根据PD501e检出的发光量向LD501d输出直流电以使LD501d发光量保持一定量的APC电路501b、在APC电路501b输出的直流电上叠加高频成份的高频发振电路501f、根据APC电路501b输出的直流电大小控制高频发振电路501f输出的高频振幅，以使LD501d多模发振的高频自动调节电路501c。本发明还提供一种通过用叠加了高频成份的电流从激光二极管向试样照射激光对所述试样进行分析的试样分析方法。 | ||
| 搜索关键词： | 试样 分析 方法 | ||
【主权项】：
1. 一种试样分析仪，包括：激光二极管，用于向试样照射激光；光量检测器，用于检测所述激光二极管的发光量；直流电输出部分，用于根据所述光量检测器检出的发光量输出供给所述激光二极管直流电，以使所述激光二极管保持一定发光量；高频叠加部分，用于在所述直流电输出部分输出的直流电上叠加高频成份；及高频控制部分，用于根据所述直流电输出部分输出的直流电大小控制所述高频叠加部分输出的高频振幅，以使所述激光二极管多模发振。
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