[发明专利]光图像计测装置和光图像计测方法有效

专利信息
申请号: 200810089801.4 申请日: 2008-03-28
公开(公告)号: CN101273882A 公开(公告)日: 2008-10-01
发明(设计)人: 福间康文;塚田央;木川勉;弓挂和彦 申请(专利权)人: 株式会社拓普康
主分类号: A61B3/14 分类号: A61B3/14;G01B9/02
代理公司: 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 代理人: 寿宁;张华辉
地址: 日本东京*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明是关于一种光图像计测装置和光图像计测方法。即使在受检眼中存在使信号光强度降低的部位时,仍可容易地取得清晰的OCT图像。眼底观察装置(1)包括:干涉强度分布演算部(213),基于干涉光(LC)的检测结果来求出干涉光的强度分布;以及照射位置决定部(214),基于前述强度分布来决定信号光(LS)对受检眼(E)的照射位置。照射位置决定部(214)以避开干涉光强度小的区域的方式,即避开受检眼(E)内的模糊部位的方式来决定信号光(LS)的照射位置。主控制部(211)向所决定的照射位置照射新信号光(LS)。演算控制装置(200)基于新的干涉光(LC)检测结果来形成眼底(Ef)的OCT图像,前述新的干涉光(LC)基于经过受检眼(E)的新信号光(LS)和经过参照镜片(174)的新参照光(LR)。
搜索关键词: 图像 装置 方法
【主权项】:
1.一种光图像计测装置,其特征在于:包括:干涉光产生元件,将低相干光分割成信号光和参照光,并使经过受检眼的前述信号光和经过参照物体的前述参照光重叠,以产生干涉光;检测元件,检测前述产生的干涉光;演算元件,基于前述检测元件的检测结果,求出前述受检眼的前述干涉光的强度分布;决定元件,基于前述所求出的强度分布,决定前述信号光对前述受检眼的照射位置;以及图像形成元件,基于新的干涉光的检测结果来形成前述受检眼的图像,前述新的干涉光基于向前述所决定的照射位置照射的新的信号光和经过前述参照物体的新的参照光。
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