[发明专利]激光衍射测量周期极化晶体参数的方法

摘要

一种激光衍射测量周期极化晶体参数的方法。本发明的测量过程是：将待测样品放置于样品台上，令激光器光线沿与样品表面法线方向同向入射样品表面，其透射光和衍射光照射到样品后面与样品表面平行的屏幕上，使屏幕上产生透射和衍射光斑；测量出样品厚度，各级衍射光斑的衍射光强I_m和激光入射到样品上的光强I_m、透过光光强I₀及衍射激光与入射方向之间的夹角φ_m，通过公式(1)、(2)、(3)进行计算，可以分别得到关于样品的参数：占空比W、折射率调制Δn和周期极化晶体的周期A。本发明具有简单易测，对样品无损伤的优点。同时本发明是基于对一个区域的平均测量，可以平行移动晶体，观察晶体不同位置的衍射光的变化情况，作为样品极化质量的一个重要参数。

主权项

1、一种激光衍射测量周期极化晶体参数的方法，其特征在于该方法的测量过程是：第一、将待测样品放置于样品台上，令激光器光线沿与样品表面极化方向同向入射样品表面，其透射光和衍射光照射到样品后面的屏幕上，使屏幕上产生透射和衍射光斑；第二、测量出样品厚度d，各级衍射光斑的衍射光强Im和激光入射到样品上的光强Iin及衍射激光与入射方向之间的夹角φm，通过公式${\eta }_m/{\eta }_n=\frac{n^2{\sin }^2\left(\mathrm{m\pi W}\right)}{m^2{\sin }^2\left(\mathrm{n\pi W}\right)},可以得到周期极化晶体的占空比W；其中式中各参数分别表示：m，n为衍射的级次，且m，n\ne 0，透过光毗邻的衍射光对称分布为1级，2级\dots \dots ；\eta 为各级光的衍射效率，定义为$ {\eta }_m=\frac{I_m}{I_{\mathrm{in}}},Im为第m级衍射光光强，Iin为入射激光光强，W为占空比。$$