[发明专利]一种测量纳米材料光致硬化性能的方法无效
| 申请号： | 200810030576.7 | 申请日： | 2008-01-30 |
| 公开（公告）号： | CN101231275A | 公开（公告）日： | 2008-07-30 |
| 发明（设计）人： | 郑学军;王甲世;陈义强;杨博;龚伦军 | 申请（专利权）人： | 湘潭大学 |
| 主分类号： | G01N33/00 | 分类号： | G01N33/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 4111*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测量纳米材料光致硬化性能的方法，包括以下步骤：(1)将光辐照系统引入三片电容板传感纳米探针装置，通过滤波机构对入射光束进行调制；(2)利用纳米探针对无光照下的纳米材料实施原位压入检测，得到纳米材料无光照下的等效模量；(3)将功率密度为0.2－0.8mW/cm2入射光束引入纳米探针装置，光束入射到金刚石纳米探针与纳米材料相接触区域。入射光束辐照下对纳米材料实施原位压入检测，得到纳米材料光辐照下的等效模量；(4)先计算纳米材料光辐照下的等效模量与无光照下的等效模量的差值，该差值与无光照下的等效模量的百分比，即为纳米材料的光致硬化性能。本发明具有如下的有益效果，引入外部可调光源，具有灵活性强、应用范围广的特点。它可解决测量纳米材料在光辐照下光致硬化性能的技术难题，避免了传统的原子力显微镜技术中固有激光的影响。该方法简单易行，能精确地测量纳米材料的光致硬化性能。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 纳米 材料 硬化 性能 方法 | ||
【主权项】：
1.一种测量纳米材料光致硬化性能的方法，其特征在于，包括以下步骤：(1)将光辐照系统引入三片电容板传感纳米探针装置，通过滤波机构对入射光束进行调制；(2)利用纳米探针对无光照下的纳米材料实施原位压入检测，得到纳米材料无光照下的等效模量；(3)将功率密度为0.2-0.8mW/cm2入射光束引入纳米探针装置，光束入射到金刚石纳米探针与纳米材料相接触区域，入射光束辐照下对纳米材料实施原位压入检测，得到纳米材料光辐照下的等效模量；(4)先计算纳米材料光辐照下的等效模量与无光照下的等效模量的差值，该差值与无光照下的等效模量的百分比，即为纳米材料的光致硬化性能。
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