[实用新型]内存电性测试器无效
| 申请号： | 200720174917.9 | 申请日： | 2007-09-05 |
| 公开（公告）号： | CN201163539Y | 公开（公告）日： | 2008-12-10 |
| 发明（设计）人： | 章熙朗;陈志丰 | 申请（专利权）人： | 英业达股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/00 | 分类号： | G11C29/00 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人： | 程伟 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种内存电性测试器，用以电性连接内存多测试接脚的任意二者，并供同时短路二个该测试接脚，该电性测试器包括二个电性接头、以及分别电性连接各该电性接头的电路开关，该电路开关并供切换短路与断路的其中一者，由此同时短路任二个接脚以降低单位信号所造成的干扰，进而提高多位元信号电性测试的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 内存 测试 | ||
【主权项】：
1.一种内存电性测试器，用于测试内存的多测试接脚的任意二者，其特征在于该电性测试器包括：二个电性接头，分别用以电性连接其中一个测试接脚；以及电路开关，分别电性连接各该电性接头的一端，以切换短路与断路的其中一者。
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