[发明专利]检测穿刺位置的装置和方法

摘要

本发明涉及一种检测穿刺位置的装置和方法，以决定解穿刺程序的检出穿刺位置。首先接收符号流。切割单元对接收的符号流进行切割，并且以其代表性比特产生第一比特流。延迟线则延迟第一比特流，产生第二比特流。回旋解码器对接收的符号执行解穿刺和解码程序，以产生第三比特流。穿刺决定单元耦接至延迟线和回旋解码器，选择可能穿刺位置中的一个穿刺位置，传送指示此穿刺位置的穿刺位置信号，比较第二比特流和第三比特流以产生穿刺位置所对应的误差量，并且根据误差量，选择出可能穿刺位置中的一个做为检出穿刺位置。通过实施本发明提供的检测穿刺位置的装置和方法，不需要附加的编码/穿刺电路便可实现，简化了产品设计，节约了制造成本。

主权项

1.一种检测穿刺位置的装置，以决定解穿刺程序的检出穿刺位置，包括：切割单元，根据硬判决法则，对每一接收的符号进行切割处理以产生第一比特流；延迟线，耦接至上述切割单元，用以延迟上述第一比特流以产生第二比特流；回旋解码器，用以接收上述接收的符号并且执行上述解穿刺程序和解码程序以产生第三比特流，其中上述解穿刺程序是根据穿刺位置信号所指示的穿刺位置来执行，上述解码程序是根据上述回旋解码器所维持的存活路径来执行；以及穿刺决定单元，耦接至上述延迟线和上述回旋解码器，用以产生上述穿刺位置信号以指出上述穿刺位置，其中上述穿刺位置是多个可能穿刺位置中之一，并且比较上述第二比特流和上述第三比特流以产生上述穿刺位置所对应的误差量，并且根据上述可能穿刺位置所对应的多个误差量，选择上述可能穿刺位置中的一者做为上述检出穿刺位置。