[发明专利]检测穿刺位置的装置和方法

权利要求书

1.一种检测穿刺位置的装置，以决定解穿刺程序的检出穿刺位置，包括：

切割单元，根据硬判决法则，对每一接收的符号进行切割处理以产生第一比特流；

延迟线，耦接至上述切割单元，用以延迟上述第一比特流以产生第二比特流；

回旋解码器，用以接收上述接收的符号并且执行上述解穿刺程序和解码程序以产生第三比特流，其中上述解穿刺程序是根据穿刺位置信号所指示的穿刺位置来执行，上述解码程序是根据上述回旋解码器所维持的存活路径来执行；以及

穿刺决定单元，耦接至上述延迟线和上述回旋解码器，用以产生上述穿刺位置信号以指出上述穿刺位置，其中上述穿刺位置是多个可能穿刺位置中之一，并且比较上述第二比特流和上述第三比特流以产生上述穿刺位置所对应的误差量，并且根据上述可能穿刺位置所对应的多个误差量，选择上述可能穿刺位置中的一者做为上述检出穿刺位置。

2.如权利要求1所述的检测穿刺位置的装置，其特征在于，上述穿刺决定单元通过选择上述可能穿刺位置中具有最低误差量者，决定出上述检出穿刺位置。

3.如权利要求1所述的检测穿刺位置的装置，其特征在于，决定上述检出穿刺位置后，上述穿刺决定单元产生对应于上述检出穿刺位置的上述穿刺位置信号，并且上述回旋解码器则根据对应于上述检出穿刺位置的上述穿刺位置信号以及通过维持上述存活路径，对上述接收的符号执行解穿刺程序和解码程序，并且根据上述存活路径产生解码信息比特流。

4.如权利要求1所述的检测穿刺位置的装置，其特征在于，上述回旋解码器根据上述存活路径产生解码码字流，每一解码码字对应到上述接收的符号在调制机制上的调制符号分布点，并且从每一解码码字中抽出至少一比特以形成上述第三比特流。

5.如权利要求1所述的检测穿刺位置的装置，其特征在于，上述穿刺决定单元包括：

决定器，用以决定上述穿刺位置信号；

比较器，耦接至上述延迟线和上述回旋解码器，用以比较上述第二比特流和上述第三比特流，以产生比较结果流；以及

计算器，用以基于上述比较结果流，计算对应于上述穿刺位置信号所指示的穿刺位置的上述误差量；

其中上述决定器产生上述穿刺位置信号以指示上述可能穿刺位置中之一为上述穿刺位置，并传送到回旋编码器，并且根据上述可能穿刺位置所对应的误差量，选择上述可能穿刺位置中的一者做为上述检出穿刺位置。

6.如权利要求1所述的检测穿刺位置的装置，其特征在于，上述延迟线将上述第一比特流延迟一段既定时间，以同步化上述第二比特流和上述第三比特流。

7.如权利要求1所述的检测穿刺位置的装置，其特征在于，上述硬判决法则是根据上述接收的符号在调制机制上的调制符号分布图所设定。

8.如权利要求7所述的检测穿刺位置的装置，其特征在于，上述调制符号分布图包括比特0区域和比特1区域，并且每一上述接收的符号包括一个成分；当上述成分落在上述比特0区域时，上述第一比特流的比特决定为“0”；当上述成分落在上述比特1区域时，上述第一比特流的比特决定为“1”。

9.如权利要求1所述的检测穿刺位置的装置，其特征在于，上述接收的符号符合ITU-T建议书J.83B的标准。

10.如权利要求9所述的检测穿刺位置的装置，其特征在于，上述接收的符号为64-正交幅度调制符号。

11.如权利要求10所述的检测穿刺位置的装置，其特征在于，上述接收的符号对应6比特码C⁵C⁴C³C²C¹C⁰，并且上述切割单元决定每一上述接收的符号的比特C⁰，用以产生上述第一比特流。