[发明专利]用于测试和分类电子元件的系统有效

专利信息
申请号: 200710123459.0 申请日: 2007-06-25
公开(公告)号: CN101311730A 公开(公告)日: 2008-11-26
发明(设计)人: 蔡培伟;史泽棠;汪世杰;叶晃承 申请(专利权)人: 先进自动器材有限公司
主分类号: G01R1/02 分类号: G01R1/02;G01R1/04;G01R31/26
代理公司: 北京申翔知识产权代理有限公司 代理人: 周春发
地址: 中国香港新界葵涌工*** 国省代码: 中国香港;81
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摘要: 发明提供一种用于电子元件,如LED器件的分类系统,该系统包括有:测试平台,其用于测试和确定每个电子元件的特性;第一容器盘,其具有多个接收座,以接收被测试的电子元件;以及第二容器盘,其具有多于该第一容器盘的接收座,以接收被测试的电子元件;其中,被装载在第一容器盘的接收座中的电子元件所包含的被测试的特性出现的频率较高,而被装载在第二容器盘的接收座中的电子元件所包含的被测试的特性出现的频率较低。
搜索关键词: 用于 测试 分类 电子元件 系统
【主权项】:
1、一种用于电子元件的分类装置,该装置包括有:测试平台,其用于测试和确定每个电子元件的特性;第一容器盘,其具有多个接收座,以接收被测试的电子元件;以及第二容器盘,其具有多于该第一容器盘的接收座,以接收被测试的电子元件;其中,被装载在第一容器盘的接收座中的电子元件所包含的被测试的特性出现的频率较高,而被装载在第二容器盘的接收座中的电子元件所包含的被测试的特性出现的频率较低。
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