[发明专利]X射线发生方法和X射线发生装置无效
| 申请号： | 200710103508.4 | 申请日： | 2007-01-31 |
| 公开（公告）号： | CN101042975A | 公开（公告）日： | 2007-09-26 |
| 发明（设计）人： | 坂部知平 | 申请（专利权）人： | 坂部知平;坂部贵和子 |
| 主分类号： | H01J35/00 | 分类号： | H01J35/00;H05G1/00;H05G1/02;A61B6/00;A61B6/08 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 李德山 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 从能量束源使能量束辐照到靶上，从而产生具有要辐照到目标上的辐照区域的X射线。然后，将X射线引入分光计，从而通过选择波长和波长范围产生平行X射线。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 发生 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种产生X射线的方法，包括如下步骤：将能量束从能量束源辐照到靶上，从而产生具有要辐照到目标上的辐照区域的X射线；以及将所述X射线引入分光计，从而通过选择波长和波长范围产生平行X射线。
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- 2008-07-28 - 2009-01-28 - H01J35/00
- 本发明公开能进一步减小尺寸与重量且能更有效检测荧光X射线等以增加灵敏度的X射线管和X射线分析设备。X射线管包含：具有处于真空状态的内部与由透射X射线的X射线透射膜构成的窗部件(1)的真空壳(2)；设于真空壳(2)中以发射电子束(e)的电子束源(3)；设于真空壳(2)中被电子束(e)照射以产生主X射线且能发射所产生的主X射线穿过窗部件(1)到外部样品(S)的目标件；设于真空壳(2)中、能检测从样品(S)发射而穿过所述窗部件入射的荧光X射线和散射X射线来输出含有该光X射线和散射X射线的能量信息的X射线检测件(4)；以及设于X射线检测件(4)与目标件(T)的电子束(e)照射区之间的金属防护构件(10)。
- X射线管和X射线分析设备-200810145529.7
- 的场吉毅;一宫丰 - 精工电子纳米科技有限公司
- 2008-07-28 - 2009-01-28 - H01J35/00
- 本发明公开了X射线管和X射线分析设备，其比目前的更小更轻，且以增强的灵敏度更有效地检测荧光X射线。X射线管包括真空封闭件，设置在该封闭件中并发射电子束的电子束源，被电子束照射并产生主X射线的目标件，X射线检测器装置，以及设置在窗口一部分的上方并从目标件延伸到上述封闭件的金属热电导体单元。上述封闭件具有真空内部和由透射X射线的X射线透射膜构成的窗口。上述目标件的外直径比所述窗口小，且被设置在该窗口的中央以使主X射线能够穿过该窗口射到外部样品。检测器装置置于封闭件中使其能检测荧光的和从样品释放后从窗口进入的散射X射线。检测器装置输出携带有与荧光的和散射的X射线的能量有关信息的信号。
- X射线管和X射线分析装置-200810009401.8
- 的场吉毅 - 精工电子纳米科技有限公司
- 2008-01-30 - 2008-08-06 - H01J35/00
- 本发明公开了X射线管和X射线分析装置。为了能够实现进一步的小尺寸和轻重量并提高灵敏度，提供：真空室(2)，其内部处于真空状态并且包括由X射线透射膜形成的窗口部分，通过该X射线透射膜可以透射X射线；安装在真空室(2)的内部的电子束源(3)，用于发射电子束e；靶T，用于通过用电子束e照射而产生初级X射线X1，并且被安装在真空室(2)的内部以便能够通过窗口部分(1)将初级X射线X1发射到外部样品S；以及X射线探测元件(4)，其被布置在真空室(2)的内部以便能够探测从样品S发射并从窗口部分(1)入射的荧光X射线和散射X射线X2，用于输出包括荧光X射线和散射X射线X2的能量信息的信号。
- 一种端窗X射线管-200610114222.1
- 田宇纮;林德旭;商颖健 - 北京普析科学仪器有限责任公司
- 2006-11-02 - 2008-05-07 - H01J35/00
- 本发明提供了一种端窗X射线管，包括外壳、用于发射电子束的阴极灯丝、薄膜阳极靶、铍窗。其中阴极灯丝封装于外壳中，所述的铍窗设置于外壳的端面上，并位于电子束的正前方，所述薄膜阳极靶设置于阴极灯丝与铍窗之间，该薄膜阳极靶固定连接在所述外壳的内部。同时，本发明采用外壳接地、阴极灯丝负高压供电模式，可以避免对外壳进行电绝缘保护，有利于X射线管散热。其优点在于：1.由于X射线需穿过薄膜阳极才能从端窗射出，因此X射线的低能部分被过滤削弱，而高能部分所受影响不大，从而得到本底较弱的X射线光谱。2.不需要用较为复杂的电场控制电子的偏转方向，使其有利于产品化和批量化。
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