[发明专利]获取非挥发存储器中失效二进制位分布信息的方法与装置有效
| 申请号： | 200710094553.8 | 申请日： | 2007-12-13 |
| 公开（公告）号： | CN101458968A | 公开（公告）日： | 2009-06-17 |
| 发明（设计）人： | 杨成兴;周第廷;黄仁德;张雅礼;陈宏领;缪威权 | 申请（专利权）人： | 中芯国际集成电路制造（上海）有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/00 | 分类号： | G11C29/00 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人： | 李 丽 |
| 地址： | 201203*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种获取非挥发存储器中失效二进制位分布信息的方法，对非挥发存储器的模块进行测试，确定失效的模块，并得到失效模块的失效类型与相应的失效地址信息；提供一个测试命令集，分别采用测试命令集内的每一个测试命令，对失效类型与该测试命令相对应的失效模块中的二进制位进行测试，确定失效二进制位的地址和失效类型。本发明还提供了一种获取非挥发存储器中失效二进制位地址分布信息的装置。本发明提供的技术方案可以节约测试时间，降低测试对器件的损伤。 | ||
| 搜索关键词： | 获取 挥发 存储器 失效 二进制位 分布 信息 方法 装置 | ||
【主权项】：
1. 一种获取非挥发存储器中失效二进制位分布信息的方法，其特征在于，包括：对非挥发存储器的模块进行测试，确定失效的模块，并得到失效模块的失效类型与相应的失效地址信息；提供一个测试命令集，分别采用测试命令集内的每一个测试命令，对失效类型与该测试命令相对应的失效模块中的二进制位进行测试，确定失效二进制位的地址和失效类型。
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