[发明专利]测量介质含量的方法及测量仪器无效

专利信息
申请号: 200710050298.7 申请日: 2007-10-19
公开(公告)号: CN101413910A 公开(公告)日: 2009-04-22
发明(设计)人: 邓霞 申请(专利权)人: 邓霞
主分类号: G01N27/22 分类号: G01N27/22;G06F19/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 610213四川省成都*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 一种测量牛奶、啤酒、血液、发酵液、水果、植物种子、禽蛋、人体器官、混凝土、油气储层这类离子介质共存体内部介质含量的测量方法及仪器。测量仪器向被测物体供给交变电流,采集电压V、虚部电流Ix,以公式Xc=V/Ix计算虚部电阻(率)、C=1/2πFXc计算电容(率);采集物体谐振频率F0,再于被测物体两端并联电容C1后测量新的谐振频率F1,然后以公式C=F12*C1/(F22-F12)计算电容(率)C,令电容率C等于第二介电常数εT,最后依据εT与介质含量正相关方式直接指示介质含量。应用时εT越大表明:发酵液发酵程度越高;血液中红血球含量越高;油气层含油饱和度越高;混凝土强度越大。第二介电常数εT在其它领域的应用规律实践中能够自行确定。
搜索关键词: 测量 介质 含量 方法 仪器
【主权项】:
一种直接指示介质含量的测量方法,采用测量仪器向被测物体供给交变电流,交变电流流过物体内部介质加两旁离子形成的电容路径产生虚部电流Ix,采用公式XC=V/Ix(或XC=R/tgθ、或XC=Z/sinθ、或XC=Z*R/R2-Z2)]]>获得虚部电阻(率)、采用公式C=1/2πFXc获得电容(率);交变电流流过被测物体还产生谐振频率F0,在被测物体上并联电容C1后会产生新的谐振频率F1,采用公式C=F12*C1/(F02-F12)获得电容(率),令所获得的电容率C等于第二介电常数εT,最后依据第二介电常数εT与介质含量正相关方式直接指示介质含量。
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