[发明专利]磁环表面质量的自动检测方法及其检测设备无效
申请号: | 200710026899.4 | 申请日: | 2007-02-13 |
公开(公告)号: | CN101275915A | 公开(公告)日: | 2008-10-01 |
发明(设计)人: | 邬曙国;邱宇;兰力;陈靖 | 申请(专利权)人: | 广州三拓识别技术有限公司;深圳市金瑞中核电子有限公司 |
主分类号: | G01N21/86 | 分类号: | G01N21/86;B07C5/342 |
代理公司: | 广州粤高专利代理有限公司 | 代理人: | 林丽明 |
地址: | 510730广东省广州市广州经*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明是一种用于检测磁环表面质量的自动检测方法及其检测设备。本发明磁环表面质量的自动检测方法采用拍照磁环表面的图像,并经过图像处理系统进行处理以判定磁环表面质量是否合格,若磁环不合格就将磁环剔除,从而实现磁环表面的检测及剔除,其不仅可提高检测效率,且可确保检测质量。本发明磁环表面质量检测设备包括有分别检测磁环上下表面质量的两套检测单元及其控制装置,两套检测单元之间设有翻转机构,两检测单元均包括有输送磁环的输送带及其驱动电机、检测机构、剔除机构,其中检测机构包括有检测触发电眼及具有图像处理功能的智能相机,其设计合理,结构简单,操作方便,是一种性能优良,方便实用的表面质量自动检测设备。 | ||
搜索关键词: | 表面 质量 自动检测 方法 及其 检测 设备 | ||
【主权项】:
1. 一种磁环表面质量的自动检测方法,其特征在于包括有如下步骤:1)待检测磁环在上表面检测单元输送带的作用下按一定间隔及一定距离进行输送;2)上表面检测单元的检测机构拍照磁环上表面的图像,并经过图像处理系统进行处理;若磁环合格就继续进入下表面检测单元;若磁环不合格就由上表面检测单元的剔除机构将磁环剔除,从而实现磁环上表面的检测及剔除;3)上表面合格的磁环经下表面检测单元的输送带进入磁环翻转机构,从而实现磁环上下表面的翻转,翻转后的磁环在下表面检测单元输送带作用下按一定间隔及一定距离进行输送;4)下表面检测单元的检测机构拍照磁环下表面的图像,并经过图像处理系统进行处理;若磁环合格就进入合格品收料盒;若磁环不合格就由下表面检测单元的剔除机构将磁环剔除,从而实现磁环下表面的检测及剔除。
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