[发明专利]荧光X射线分析装置和其所采用的程序有效
| 申请号： | 200610083463.4 | 申请日： | 2006-05-30 |
| 公开（公告）号： | CN1877312A | 公开（公告）日： | 2006-12-13 |
| 发明（设计）人： | 河原直树;原真也;堂井真 | 申请（专利权）人： | 理学电机工业株式会社 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223;G01N23/22 |
| 代理公司： | 北京三幸商标专利事务所 | 代理人： | 刘激扬 |
| 地址： | 日本国大阪府*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明的课题在于提供一种荧光X射线分析装置等，其可针对包含多个非测定元素的无法指定其原子序数的各种试样，在更宽的适合范围内充分而正确地进行分析。设置算出机构，其根据假定的元素的浓度计算由试样中的各元素产生的2次X射线的理论强度，按照该理论强度和通过检测机构测定的测定强度一致的方式，对上述假定的元素的浓度进行最佳化计算，算出试样的元素的浓度，上述算出机构针对不测定荧光X射线的非测定元素假定多个非测定元素的浓度，并且代替从试样中的非测定元素产生的2次X射线，采用其数量至少与假定浓度的非测定元素相同的1次X射线的散射线，所采用的1次X射线的散射线包含用试样散射之前的波长不同的散射线。 | ||
| 搜索关键词： | 荧光 射线 分析 装置 采用 程序 | ||
【主权项】：
1.一种荧光X射线分析装置，该荧光X射线分析装置包括：向试样照射1次X射线的X射线源；测定从试样产生的2次X射线的强度的检测机构；算出机构，该算出机构根据假定的元素的浓度，计算由试样中的各元素产生的2次X射线的理论强度，按照该理论强度和通过上述检测机构测定的测定强度一致的方式，对上述假定的元素的浓度进行最佳化计算，算出试样的元素的浓度；其特征在于上述算出机构针对不测定荧光X射线的非测定元素，假定多个非测定元素的浓度，并且代替从试样中的非测定元素产生的2次X射线，采用其数量至少与假定浓度的非测定元素相同的1次X射线的散射线，所采用的1次X射线的散射线包含用试样散射之前的波长不同的散射线。
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