[发明专利]光泽测量装置以及光泽测量方法有效
| 申请号： | 200610065705.7 | 申请日： | 2006-03-10 |
| 公开（公告）号： | CN1831519A | 公开（公告）日： | 2006-09-13 |
| 发明（设计）人： | 桑田良隆 | 申请（专利权）人： | 富士施乐株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/57 | 分类号： | G01N21/57;G06F19/00 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人： | 黄纶伟 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 光泽测量装置以及光泽测量方法。本发明提供了一种光泽测量装置，从光源照射光、根据由被测量物反射的正反射光求出表示上述被测量物的光泽度的评价值。该光泽测量装置具有取得单元、像素光泽度计算单元、评价值计算单元。取得单元根据来自上述被测量物表面的正反射光的各个预定像素的受光量，取得图像信息。像素光泽度计算单元根据由上述取得单元取得的图像信息的各个像素的受光量，算出各个像素的光泽度。评价值计算单元根据由上述像素光泽度计算单元算出的上述光泽度，算出表示上述被测量物的光泽度的评价值。 | ||
| 搜索关键词： | 光泽 测量 装置 以及 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种光泽测量装置，从光源照射光、根据由被测量物反射的正反射光求出表示上述被测量物的光泽度的评价值，该光泽测量装置具有：取得单元，其根据来自上述被测量物表面的正反射光的各个预定像素的受光量取得图像信息；像素光泽度计算单元，其根据由上述取得单元取得的图像信息的各个像素的受光量，算出各个像素的光泽度；以及评价值计算单元，其根据由上述像素光泽度计算单元算出的上述光泽度，算出表示上述被测量物的光泽度的评价值。
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