[发明专利]嵌入有片上优化的读/写通道无效

专利信息
申请号: 200510074666.2 申请日: 2005-05-30
公开(公告)号: CN1702758A 公开(公告)日: 2005-11-30
发明(设计)人: 李元兴 申请(专利权)人: 日立环球储存科技荷兰有限公司
主分类号: G11B20/10 分类号: G11B20/10;G11B20/18;G11B5/02;G11B5/09
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 邸万奎;黄小临
地址: 荷兰阿*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要: 通过根据嵌入式通道优化解决方案(ECOS)将通道优化算法/过程嵌入到通道、或在读/写通道与盘驱动器控制器集成在一起的情况下嵌入到片上系统(SOC)中,提供了对记录系统中的读/写通道的优化。ECOS包括:设置/恢复块,被配置成根据由设置/恢复块接收的输入所指定的模式,设置读/写通道(独立或嵌入在SOC中);参数/计量块,被配置成存储要被优化的参数以及每个参数的计量;计量测量块,被配置成根据指定的模式提供计量测量;以及扫视比较选择块,被配置成扫视这些参数的多个值的每个值,将从计量测量块获得的当前计量与针对这些参数的每个扫视值的先前计量相比较,以识别较佳计量,并且选择与较佳计量对应的每个参数的值,以便优化该多个参数。
搜索关键词: 嵌入 有片上 优化 通道
【主权项】:
1.一种嵌入在记录设备的读/写通道或包含集成在一起的读/写通道和盘控制器的片上系统中的用于优化读/写通道的多个参数的系统片上系统,该系统包括:设置/恢复块,被配置成根据由设置/恢复块接收的输入所指定的模式,设置读/写通道;参数/计量块,被配置成存储要被优化的参数以及每个参数的计量;计量测量块,被配置成根据指定的模式提供计量测量;以及扫视比较选择决,被配置成扫视这些参数的多个值的每个值,将从计量测量块获得的当前计量与针对这些参数的每个扫视值的先前计量相比较,以识别较佳计量,并且选择与较佳计量对应的每个参数的值,以便优化所述多个参数。
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