[发明专利]用于提供可控制的纹理采样的系统和方法有效
| 申请号： | 03110560.2 | 申请日： | 2003-04-10 |
| 公开（公告）号： | CN1467687A | 公开（公告）日： | 2004-01-14 |
| 发明（设计）人： | 查尔斯·N·伯伊德;迈克尔·A·托利 | 申请（专利权）人： | 微软公司 |
| 主分类号： | G06T15/10 | 分类号： | G06T15/10;G06T11/20;G06T7/60;G06F9/30 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 付建军 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 提供在计算机系统中用于控制对计算机图形进行的纹理采样的系统和方法。在各个实施例中，提供了用于控制纹理采样的改进的机制，它们能使3－D加速器硬件大大地提高呈现时的逼真度，包括针对下列各项的改进的机制：(1)运动模糊；(2)生成各向异性表面反射；(3)生成表面自投阴影；(4)光线投射容量采样；(4)自投阴影容量呈现和(5)自投阴影容量光线投射。在补充现有的纹理采样技术时，可以替换和/或修改用于纹理采样的参数。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 提供 控制 纹理 采样 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种提供可控制的纹理采样的方法，包括：指定在对纹理图进行纹理采样时利用的采样区域的至少一个参数；以及根据所说的采样区域的所说的指定参数对所说的纹理图进行纹理采样。
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