[发明专利]群延迟测试方法及装置有效
| 申请号： | 02142406.3 | 申请日： | 2002-09-17 |
| 公开（公告）号： | CN1484035A | 公开（公告）日： | 2004-03-24 |
| 发明（设计）人： | 吴庆杉;陈建铭 | 申请（专利权）人： | 联发科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G06F11/00;G06F13/00;H04L12/26;H04L12/54 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 马莹;邵亚丽 |
| 地址： | 台湾省*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供了群延迟测试方法，用来测试一受测装置的群延迟Tgd。该群延迟测试方法包含以下步骤：(A)输入一已知周期T的模拟单频信号至所述受测装置的一输入端；(B)提取该输入的单频信号及通过所述受测装置后所输出的一延迟后单频信号，并将该输入的单频信号和该延迟后单频信号分别转换成一第一数字信号与一第二数字信号；(C)比较该第一、第二数字信号的相位差；(D)将所得相位差的比较结果转换成一正比于该相位差的电流I；(E)使所得电流I流经一已知电阻值R的平均电路，并获得一电压差ΔV；及(F)依据这些已知的周期T、电流I、电阻值R及电压差ΔV，求得所述受测装置的群延迟Tgd。 | ||
| 搜索关键词： | 延迟 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种群延迟测试方法，用来测试一受测装置的群延迟Tgd，该群延迟测试方法包含以下步骤：(A)输入一已知周期T的模拟单频信号至所述受测装置的一输入端；(B)提取该单频信号及通过所述受测装置后所输出的一延迟后单频信号，并将该单频信号和该延迟后单频信号分别转换成一第一数字信号与一第二数字信号；(C)比较该第一、第二数字信号的相位差；(D)将相位差的比较结果转换成一正比于该相位差的电流I；(E)使该电流I流经一已知电阻值R的平均电路，并获得一电压差ΔV；及(F)依据这些已知的周期T、电流I、电阻值R及电压差ΔV，求得所述受测装置的群延迟Tgd。
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