[发明专利]电路时延测试方法有效
| 申请号： | 00136116.3 | 申请日： | 2000-12-25 |
| 公开（公告）号： | CN1125989C | 公开（公告）日： | 2003-10-29 |
| 发明（设计）人： | 李华伟 | 申请（专利权）人： | 中国科学院计算技术研究所 |
| 主分类号： | G01R31/3181 | 分类号： | G01R31/3181;G01R31/28 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 朱海波 |
| 地址： | 100080 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种新的可变双观测点的时延测试方法，建立了可变双观测点的时延测试模型。被测电路的完全时延测试集是由通路集的一个最大线性无关组中每条通路的波形敏化测试图形构成的。对每一个测试，按照可变双观测点的时延测试模型工作的测试仪需要在电路的原始输出采样两次以确定被测通路的传输延时是否在预期的正常范围内，采样的时间对不同的测试是可变的。用该方法实现一种精确测量的时延测试自动生成系统。 | ||
| 搜索关键词： | 电路 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种电路时延测试方法，其中包括如下步骤：把被测电路作为一个组合网络，由测试仪产生第一时钟序列、第二时钟序列和第三时钟序列；第一时钟序列在第一时刻将输入跳变送入输入锁存，第二时钟序列和第三时钟序列为采样脉冲，分别在第二时刻和第三时刻送入输出锁存，第二时刻在第三时刻之前。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院计算技术研究所，未经中国科学院计算技术研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/00136116.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：荧光灯调光器的控制方法及控制电路
- 下一篇：应力分布的磁检测方法
