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[发明专利]扩展JTAG控制器和使用扩展JTAG控制器进行功能调试的方法-CN201880096567.X在审
发明人： U·珀斯特 -专利权人：康姆索利德有限责任公司
申请日： 2018-08-22 - 公布日： 2021-06-18 - 主分类号： G01R31/317 文献下载
摘要：本发明公开了基于扩展联合测试行动组的控制器及使用该扩展联合测试行动组的控制器进行功能调试的方法。本发明的目的是降低功耗(动态和泄漏)，但同时提供测试和调试程序的相同功能，这将通过扩展联合测试行动组(JTAG)控制器解决，用于测试集成电路(IC)寄存器的触发器使用用于测试包括至少一个扫描链的IC上的扫描基础设施的设计，其中，外部调试器通过JTAG控制器连接到扫描基础结构的可测性设计，该JTAG控制器由调试控制器扩展，然而，从扫描链的输出到扫描链的输入多路复用器形成反馈回路，该输入多路复用器根据扩展JTAG控制器激活。
扩展 jtag 控制器使用进行功能调试方法

[发明专利]扩展JTAG控制器和使用扩展JTAG控制器进行功能复位的方法-CN201880096698.8在审
发明人： U·珀斯特 -专利权人：康姆索利德有限责任公司
申请日： 2018-08-22 - 公布日： 2021-03-30 - 主分类号： G01R31/3185 文献下载
摘要：本发明公开了基于扩展联合测试行动组的控制器及其使用方法。本发明的目的是通过降低IC的功耗使集成电路的测试更容易，但同时为超低功耗IC提供相同的功能，这将通过扩展联合测试行动组(JTAG)控制器来解决，该控制器通过使用集成电路(IC)上的扫描基础结构的可测性设计来测试构成该电路中数字单元的内部存储元件，其中JTAG控制器由用于IC中所有数字单元的总复位发生器扩展而来，而有限状态机控制总复位发生器。在复位模式下，JTAG控制器停止至少一个时钟模块向应复位的数字单元进行传输；然后将所有扫描链设置为测试模式，并将输入多路复用器切换到复位模式；然后控制移位时钟周期的数量，以便将复位值分别传递到扫描链中的触发器。
扩展 jtag 控制器使用进行功能复位方法