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[发明专利]用于扫描测试的电路和方法-CN202310271696.0在审
发明人： V·N·斯里尼瓦桑;M·沙玛;S·K·瓦特斯;U·C·斯利瓦斯塔瓦 -专利权人：意法半导体国际有限公司
申请日： 2023-03-20 - 公布日： 2023-09-22 - 主分类号： G01R31/3185 文献下载
摘要：在一个实施例中，一种用于执行扫描测试的方法包括：生成第一扫描时钟信号和第二扫描时钟信号；将第一扫描时钟信号和第二扫描时钟信号分别提供给第一扫描链和第二扫描链，其中当扫描使能信号被断言时，第一扫描时钟信号和第二扫描时钟信号包括相应第一移位脉冲，并且当扫描使能信号被解除断言时，第一扫描时钟信号和第二扫描时钟信号包括相应第一捕获脉冲，其中第一扫描时钟信号和第二扫描时钟信号的第一移位脉冲对应于第一时钟信号的第一时钟脉冲，其中第一扫描时钟信号的第一捕获脉冲对应于第一时钟信号的第二时钟脉冲，并且其中第二扫描时钟信号的第一捕获脉冲对应于与第一时钟信号不同的第二时钟信号的第一时钟脉冲。
用于扫描测试电路方法

[发明专利]扫描电路和方法-CN202210115975.3在审
发明人： V·N·斯里尼瓦桑;S·K·瓦特斯;T·古普塔 -专利权人：意法半导体国际有限公司
申请日： 2022-02-07 - 公布日： 2022-08-02 - 主分类号： G01R31/3185 文献下载
摘要：本公开的实施例涉及扫描电路和方法。在一个实施例中，一种执行扫描的方法包括：进入扫描模式；接收测试图案；通过断言和解除断言扫描使能信号来贯穿第一扫描链应用测试图案，以对第一扫描链分别执行移位和捕获操作；在贯穿第一扫描链应用测试图案时，利用第一扫描链控制另外的扫描触发器，而不转换另外的扫描触发器的另外的扫描使能输入；并且评估第一扫描链的输出以检测故障。
扫描电路方法