专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]衬底上结构的测量-CN201180027375.1有效
  • M·埃本;H·克拉莫;N·莱特;R·埃尔瓦埃森切兹;M·斯拉伯 - ASML荷兰有限公司
  • 2011-05-03 - 2013-02-06 - G03F7/20
  • 衍射模型和散射仪用于重构衬底上的显微结构(30)的模型。限定多个备选结构,每个通过多个参数(p1、p2等)表示。通过模拟所述备选结构中的每一个的照射来计算多个模型衍射信号。通过将一个或更多个所述模型衍射信号与由结构(30)检测的信号拟合来重构所述结构。在备选结构的生成过程中,使用模型选配方案,其中参数被指定为固定的或可变的。在可变参数当中,特定参数被约束以根据特定约束(A),例如线性约束,一起变化。通过参照用于指定一个或更多个对测量感兴趣的参数的用户输入(988)并通过模拟重构过程重构来确定约束(990)的优化组,并因此确定优化的模型选配方案(994)。使用多个备选模型选配方案通过模拟参考结构的组(984)的重构的“参数顾问”过程(986)可以确定优化的模型选配方案。在生成参考结构的过程中,限制可以被应用(985)以排除“不现实”的参数组合。
  • 衬底结构测量

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