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[发明专利]用于抗辐射设计的电路设计验证工具-CN202280002615.0在审
发明人： L·J·格瓦克斯;T·P·杜里埃 -专利权人：德州仪器公司
申请日： 2022-01-31 - 公布日： 2022-09-30 - 主分类号： G06F30/33 文献下载
摘要：一个实例包含一种用于验证电路设计的方法。所述方法包含提供一组编码规则(106)。所述编码规则(106)中的每一者可定义电路单元的条件以使所述电路设计符合抗辐射要求。所述方法还包含从电路设计数据库(108)存取与所述电路设计相关联的电路设计网表(112)。所述方法还包含关于所述编码规则(106)中的每一者评估所述电路设计网表(112)中的所述电路单元中的每一者。所述方法进一步包含提供电路评估报告，所述电路评估报告包括响应于所述评估的一组所述电路单元关于所述编码规则(106)中的一或多者的未通过指示。
用于辐射设计电路设计验证工具

[发明专利]经由外部定时电容器的单引脚监测的多芯片同步-CN201980034035.8在审
发明人： L·J·格瓦克斯;K·W·齐默;R·D·乔丹格尔;H·托雷斯 -专利权人：德州仪器公司
申请日： 2019-06-07 - 公布日： 2020-12-29 - 主分类号： H03K4/502 文献下载
摘要：提供了一种响应于事件触发操作IC芯片的方法(400)。所述方法包含响应于事件触发，将引脚耦合(405)到恒定电流源以对耦合到所述引脚的外部电容器充电，以及监测(410)所述引脚上的电容器电压。如果电容器电压的量值大于上升阈值，则启用下降阈值的检测(415)。如果所述电容器电压的所述量值大于电压阈值，则触发(420)第一响应，并且所述引脚耦合(420)到下轨以使所述外部电容器放电。如果启用所述下降阈值的检测并且所述电容器电压的所述量值小于所述下降阈值，则也触发(425)所述第一响应。
经由外部定时电容器引脚监测芯片同步