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- [发明专利]用于轧件的影响装置的控制方法-CN201080030875.6有效
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K.魏因齐尔;H-U.勒夫勒
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西门子公司
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2010-06-28
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2012-05-23
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G05B13/04
- 控制装置（3）如此控制影响装置（1），使得该影响装置（1）相应地影响轧件（2）。所述控制装置（3）结合对轧件（2）的影响实时检测至少一个测量参量（F、M、T），所述测量参量（F、M、T）依赖于所述轧件（2）的第一特性的在检测所述测量参量（F、M、T）的时刻的数值。所述控制装置（3）借助于轧件（2）的对所述影响装置（1）中的过程进行描绘的模型（11）来求得相应的模型参量（F’、M’、T’）。所述模型（11）包括基于数学物理的方程式的第一子模型（12），在使用该第一子模型（12）的情况下能够求得所述第一特性的数值。所述模型（11）包括基于数学物理的方程式的第二子模型（13），借助于该第二子模型（13）能够求得所述轧件（2）的第二特性的在施加影响期间的时间上的演变。所述轧件（2）的第一特性的在检测所述测量参量（F、M、T）的时刻的数值依赖于所述轧件（2）的第二特性的时间曲线或者说依赖于该轧件（2）的第二特性的在检测所述测量参量（F、M、T）的时刻的数值并且/或者所述测量参量（F、M、T）除了依赖于所述第一特性的数值的依赖关系，也依赖于所述轧件（2）的第二特性的在检测所述测量参量（F、M、T）的时刻的数值。所述控制装置（3）借助于所述模型（11）来求得所述轧件（2）的第二特性的时间曲线、所述轧件（2）的第一特性的在检测所述测量参量（F、M、T）的时刻的数值并且在使用所述轧件（2）的第二特性的所求得的时间曲线以及所述轧件（2）的第一特性的在检测所述测量参量（F、M、T）的时刻的数值的情况下来求得模型参量（F’、M’、T’）。所述控制装置（3）根据所检测到的测量参量（F、M、T）的偏离所述模型参量（F’、M’、T’）的偏差虽然对所述第二子模型（13）进行适配，但是不对所述第一子模型（12）进行适配或者通过成本函数（K1）的优化不仅对所述第一子模型（12）而且对所述第二子模型（13）进行适配，但是其中除了所述测量参量（F、M、T）的偏离所述模型参量（F’、M’、T’）的偏差，依赖于这种第一子模型（12）的适配的处罚项（K2）也输入到所述成本函数（K）中。
- 用于轧件影响装置控制方法
- [发明专利]借助轧制参数对与轧制模块不同的附加模块进行适配的轧机用的控制方法-CN201080030644.5有效
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K.魏因齐尔;H-U.勒夫勒
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西门子公司
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2010-06-28
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2012-05-23
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G05B13/04
- 用于轧机（1）的控制装置（3）利用控制指令（A）来控制轧机（1），从而与所述控制指令（A）相应地在所述轧机（1）的第一轧机机架（4）中对第一轧材（2）进行轧制。控制装置（3）实时地记录至少一个轧制参数（F、M），利用所述轧制参数在所述轧机（1）的第一轧机机架（4）中对所述第一轧材（2）进行轧制。所述控制装置（3）借助轧制模块（11）确定与所记录的轧制参数（F、M）相应的期望的轧制参数（F′、M′），所述轧制模块描述在所述第一轧机机架（4）中对所述第一轧材（2）进行的轧制。控制装置（3）借助附加模块（12）确定所述轧材（2）的特性，所述特性与所记录的轧制参数（F、M）不同并且在所述第一轧机机架（4）中对所述第一轧材（2）进行轧制时存在于所述第一轧材（2）中。当确定所期望的轧制参数（F′、M′）时，控制装置（3）在所述轧制模块（11）的范围内考虑所述第一轧材（2）的确定的特性。控制装置（3）确定被记录的轧制参数（F、M）与期望的轧制参数（F′、M′）的偏差（δ）并且借助被记录的轧制参数（F、M）与期望的轧制参数（F′、M′）的偏差（δ）至少对所述附加模块（12）进行适配。此外，确定被记录的附加的测量参数（F、M）与附加的、借助至少所述轧制模块（11）确定的相应的期望参数（F′、M′）的偏差（δ），从而还能对轧制模块（11）进行适配。
- 借助轧制参数模块不同附加进行轧机控制方法
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