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- [发明专利]具有高存储密度的光记录材料-CN200480005575.7无效
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U·莱曼;P·萨特;B·施密德哈尔特;J·-L·布德里
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西巴特殊化学品控股有限公司
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2004-02-23
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2006-04-05
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G11B7/24
- 本发明涉及一种光记录介质,它包含基材、反射层和基于通式(I)化合物的记录层,其中G1和G2彼此独立,A1和A2彼此独立地是N(R12)、O、S或Se,而A3是C(C1~C5烷基)2、C(C4~C5亚烷基)、N(R12)、O、S、Se、N=C(R13)或未取代的或者R14-取代的CH=CH;M1是族IX~XII的过渡金属,优选Co、Cu、Ni、Pd或Zn,尤其是Co、Cu或Ni;Q1和Q2彼此独立地是C(R15)、N或P……有关其它取代基的细节,参见正文。记录和回放尤其以350~500nm的波长,例如,采用蓝色激光实施的。记录和回放品质卓越并允许高存储密度。还公开通式(I)的新化合物,但J.Org.Chem.67/16,5753-5772中公开的化合物除外。
- 具有存储密度记录材料
- [发明专利]高性能光学存储介质-CN03811036.9无效
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U·勒曼;P·埃施利曼;J·-L·布德里;B·施密哈特;C·莫顿
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西巴特殊化学品控股有限公司
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2003-04-15
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2005-08-10
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G11B7/24
- 本发明涉及一种包括基层、反射层和记录层的光学记录介质,其中所述记录层包括下式的化合物:其中R1到R11可为氢或各种取代基,但是R1和R9并不同时为氢;Ym-为无机、有机或有机金属阴离子,或它们的混合物;Zn+为质子或金属、铵或鏻阳离子,或它们的混合物;m、n和o各自独立为1到3的整数;和p和q各为0到4的一个数,o、p和q的相互比率取决于相关的亚结构的电荷,以使式(I)、(II)或(III)中没有过量的正电荷或负电荷。本发明还公开了呫吨高氯酸盐在制备具有有机金属阴离子的式(I)、(II)或(III)的化合物中的用途,和乳酸盐在具式(I)、(II)或(III)的化合物的染料层通过旋涂施加到具槽基层上的用途。
- 性能光学存储介质
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