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[发明专利]用于罐中的GWR测量的馈通器-CN201580016899.9有效
发明人： I.乔治斯库;C.科比亚努;S.J.希思;M.K.Y.休斯;F.M.哈兰 -专利权人：霍尼韦尔国际公司
申请日： 2015-03-16 - 公布日： 2020-04-14 - 主分类号： G01F23/284 文献下载
摘要：一种用于将所接收的过程连接装置（2）耦合到储罐（罐40）的同轴馈通装置（馈通器100），其包含内部电导体（探头）（10），外部电导体（20）；以及介电套管，所述介电套管设置在所述探头和所述外部电导体之间。所述介电套管经配置以提供上部同轴传输线路段（上部CTL段）（100a），所述上部同轴传输线路段提供大体上50欧姆的阻抗；以及下部同轴传输线路段（下部CTL段）（110b），所述下部同轴传输线路段包含一个或多个子段（100b1和100b2，100b'或100b''），所述子段具有与所述大体上50欧姆的阻抗相比高出至少百分之四十（40%）的阻抗。
用于中的 gwr 测量馈通器

[发明专利]使用多个搜索步骤的水平寻找-CN201580053609.8有效
发明人： J.贝克斯特隆;S.辛赫;I.马克维奇;S.萨瓦;M.K.Y.休斯;F.M.哈兰 -专利权人：霍尼韦尔国际公司
申请日： 2015-09-29 - 公布日： 2019-11-19 - 主分类号： G01F23/284 文献下载
摘要：水平寻找的方法（100）包括提供（101）发射到在其中具有至少一个材料的槽（305）中的波导（340）上的在时域中的发射脉冲的形状的特性、在脉冲的频率处的波导的物理性质以及材料的实部和虚部介电特性。实现具有粗略搜索和精细搜索的水平寻找算法（310a），其中所述粗略搜索最小化（103）回声信号（回声曲线y(k)）与采样的脉冲模型回声p(k)之间的预测误差以获得最小预测误差（k*）的邻域中的目标函数J(k)。精细搜索使用邻域k*中的J(k)计算（104）至少一个最小值或最大值。最小值或最大值对应于材料的水平或涉及材料的界面。
使用搜索步骤水平寻找

[发明专利]用于接口确定的脉冲形状改变-CN201580057304.4有效
发明人： S.萨瓦德;F.M.哈兰 -专利权人：霍尼韦尔国际公司
申请日： 2015-10-22 - 公布日： 2019-10-11 - 主分类号： G01F23/284 文献下载
摘要：一种针对储槽（205）中的第一和第二材料的脉冲雷达界面确定的方法（100），提供（101）界面物位确定模型，界面物位确定模型包括利用针对材料的折射率和第二材料的厚度的传递函数。将至少一个实际雷达脉冲传输（102）到储槽中，并且测量包括界面位置周围的所测量到的（多个）界面脉冲的所得回波曲线部分。利用参考脉冲和初始厚度值模拟（103）界面模型以生成初始模型生成的界面脉冲（初始MGIP）。将所测量到的界面脉冲与初始MGIP脉冲进行逐点比较（104）以确定残差。如果残差之和＞预定阈值，利用使用更新的厚度值生成的更新的界面模型而重复比较（105），所述更新的界面模型提供更新的MGIP脉冲。当残差之和＜预定阈值时，确定厚度（106）。
用于接口确定脉冲形状改变

[发明专利]用于脉冲雷达的分辨率模式切换-CN201580053584.1在审
发明人： M.K.Y.休斯;F.M.哈兰 -专利权人：霍尼韦尔国际公司
申请日： 2015-09-29 - 公布日： 2017-05-24 - 主分类号： G01F23/284 文献下载
摘要：一种脉冲雷达水平感测的方法（100）。用由探头（240）发射到储罐（205）中的具有第一脉冲宽度的第一发送雷达脉冲执行的第一水平扫描（101），其中，第一水平扫描在第一扫描距离上。分析响应于第一脉冲而生成的第一回波以确定储罐中的材料的近似水平（102）。用由探头发射到储罐中的具有第二脉冲宽度的第二发送雷达脉冲的第二水平扫描（103），其中测量窗口＜包括近似水平的第一扫描距离。第二脉冲宽度＜第一脉冲宽度。分析响应于第二脉冲而生成的第二回波以确定已修订较高分辨率材料水平测量结果（104）。
用于脉冲雷达分辨率模式切换

[发明专利]用于在片材制造或处理系统中校正片材产品的卡尺厚度测量值的系统和方法-CN201380022580.8有效
发明人： F.M.哈兰;S.蒂克西尔;M.K.Y.休斯;G.I.杜克;J.F.莎士比亚 -专利权人：霍尼韦尔阿斯卡公司
申请日： 2013-04-10 - 公布日： 2017-04-12 - 主分类号： G01B21/08 文献下载
摘要：一种方法包括使用具有第一和第二传感器模块（202‑204，302‑304）的卡尺厚度传感器（200，300）来测量（508）材料片材（108）的卡尺厚度。所述方法还包括基于第一传感器模块中的第一传感器组件和第二传感器模块中的第二传感器组件之间的横向位移来调整（514）卡尺厚度测量值以生成所校正的卡尺厚度测量值。调整卡尺厚度测量值可以包括应用基于所测量的横向位移来调整卡尺厚度测量值的校正函数。所述校正函数可以通过在第一和第二传感器组件之间重复地创造不对准，使用卡尺厚度传感器测量已知距离，并识别已知距离的测量值和已知距离之间的误差来识别。
用于制造处理系统中校正片产品卡尺厚度测量方法

[发明专利]用于精炼应用的主动浊点控制器和相关方法-CN201180030271.6有效
发明人： G.E.斯图尔特;J.T.唐纳;S.蒂克西尔;F.M.哈兰;C.P.吕布克 -专利权人：霍尼韦尔国际公司
申请日： 2011-04-05 - 公布日： 2017-02-22 - 主分类号： C10G3/00 文献下载
摘要：一种方法包括接收（302）与在精炼系统（100）中产生的生物燃料的浊点关联的测量。该方法也包括基于生物燃料的所需浊点（136）和与浊点关联的测量来确定（306）如何调整精炼系统。该方法还包括基于确定来输出（308）控制信号以调整精炼系统。确定如何调整精炼系统可以包括确定如何调整精炼系统中的反应器的入口温度。反应器可以代表异构化反应器（116），并且加热器（114）可以加热进入异构化反应器的材料。确定如何调整反应器的入口温度可以包括确定如何调整加热器的操作。模型预测控制（MPC）技术可以用来确定如何调整异构化反应器的入口温度。
用于精炼应用主动控制器相关方法

[发明专利]对液体中的气体含量进行自动测量的原位传感器以及相关系统和方法-CN201180058803.7有效
发明人： A.克罗拉克;R.M.德里斯;F.M.哈兰;S.蒂克西尔 -专利权人：霍尼韦尔阿斯卡公司
申请日： 2011-10-06 - 公布日： 2013-07-31 - 主分类号： G01N1/14 文献下载
摘要：一种系统（100、300）包括信号源（126、326），该信号源提供用于测量液体样品的气体含量的第一信号。该系统还包括分析器（128、328），该分析器利用第二信号的测量结果来确定液体样品的气体含量，其中，第二信号基于第一信号。该系统还包括装置，该装置具有有壁结构（106、306），该有壁结构具有腔体（108、308）。该装置还包括活塞（110、310），该活塞把液体样品拉入腔体并把液体样品推出该腔体。该装置还包括至少一个测量窗口（130-132、330），该至少一个测量窗口的至少一个内表面暴露在该腔体内。所述至少一个测量窗口从信号源接收第一信号并且向分析器提供第二信号。活塞还可以清洁至少一个内表面，并且活塞可以包括用于校准分析器的参考材料（116、316）。
液体中的气体含量进行自动测量原位传感器以及相关系统方法

[发明专利]用于获得重合片材参数的基于时域频谱（TDS）的方法和系统-CN200980138678.3有效
发明人： F.M.哈兰;P.穆萨维;D.耶斯;S.多奇 -专利权人：霍尼韦尔阿斯卡公司
申请日： 2009-07-31 - 公布日： 2011-08-31 - 主分类号： G01N21/25 文献下载
摘要：一种用于在由制造系统（700）生产时的片材的性质的非接触表征的现场的基于时域频谱（TDS）的方法（200）。提供时域频谱系统（100）和用于系统（100）的校准数据。校准数据包括作为片材的含湿量的函数的、通过片材透射的功率或者从片材反射的功率的数据。将来自透射机（111）的THz或近THz辐射的至少一个脉冲引导至正由制造系统（700）处理的片材样本（130）上的样本位置处。由检测器（110）同步检测与来自样本位置的至少一个透射脉冲或反射脉冲相关联的透射辐射或反射辐射以获得样本数据。连同校准数据（207、208、209）一起处理作为重合数据的样本数据以确定选自片层厚度、基重和含湿量的片材样本（130）的至少一个性质并且通常是多个性质。
用于获得重合参数基于时域频谱 tds 方法系统

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