专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]波管线-CN201880075831.1有效
  • K·沙克瑞;A·F·Z·加莱姆;汤强;E·N·李 - 美光科技公司
  • 2018-11-07 - 2023-08-15 - G11C7/10
  • 本发明揭示一种波管线,其包含第一级、多个第二级及第三级。所述第一级接收表示数据的数据信号及时钟信号,且可以等于所述时钟信号的时钟速率的第一数据速率处理所述数据。每一第二级可响应于从所述第一级接收的相应时钟周期而以等于所述第一数据速率乘以第二级的数目的第二数据速率处理相应数据。所述第三级可以所述第一数据速率处理从每一第二级接收的数据。所述第一级在所述多个第二级之间分配所述数据信号及所述时钟信号。所述第三级合并来自所述多个第二级中的每一者的所述相应数据及所述相应时钟周期以提供合并数据信号及回传时钟信号。
  • 管线
  • [发明专利]存储器装置中的双单层级单元编程-CN202310105415.4在审
  • T·O·伊瓦萨基;E·N·李;李濬 - 美光科技公司
  • 2023-02-10 - 2023-08-11 - G11C16/30
  • 本申请涉及存储器装置中的双单层级单元编程。存储器装置中的控制逻辑使通过电压施加到所述存储器装置的存储器阵列的块的多个字线,所述块包括多个子块,且所述通过电压将所述多个子块中的每一个的通道电位升压到升压电压。所述控制逻辑进一步根据表示待编程到所述多个子块的相应存储器单元的位序列的数据模式从所述多个子块中的一或多个选择性地对所述升压电压进行放电。另外,控制逻辑使单个编程脉冲施加到所述块的所述多个字线中的所选择字线以根据所述数据模式对所述多个子块的相应存储器单元进行编程。
  • 存储器装置中的层级单元编程
  • [发明专利]用于多层级单元存储器装置中编程验证配对的方法和设备-CN202211514486.1在审
  • E·N·李;L·武;L·C·米兰达;J·M·H·蔡 - 美光科技公司
  • 2022-11-29 - 2023-06-02 - G11C16/12
  • 本申请涉及一种用于多层级单元存储器装置中的编程验证配对的方法和设备。存储器装置中的控制逻辑起始编程操作的第一循环,所述第一循环包括(a)其中将与存储器阵列的块中的选定字线相关联的多个存储器单元编程到多个编程电平中的相应者的编程阶段,及(b)对应编程验证阶段。所述控制逻辑进一步标识所述多个存储器单元中与待在所述编程验证阶段期间验证的所述多个编程电平的第一子集相关联的存储器单元,所述第一子集包括两个或更多个动态选择的编程电平,所述两个或更多个动态选择的编程电平至少包括所述多个编程电平中的所述相应者的最低编程电平和第二低编程电平。所述控制逻辑进一步使得在所述编程验证阶段期间将第一编程验证电压施加到所述选定字线,并且对所述多个存储器单元中与所述多个编程电平的所述第一子集相关联的所标识存储器单元执行并行感测操作,以确定所述所标识存储器单元是否在所述编程操作的所述第一循环的所述编程阶段期间被编程到对应于所述多个编程电平的所述第一子集的相应编程验证阈值电压。
  • 用于多层单元存储器装置编程验证配对方法设备
  • [发明专利]存储器装置中的联合单层级单元验证-CN202211088688.4在审
  • E·N·李;T·O·伊瓦萨基 - 美光科技公司
  • 2022-09-07 - 2023-03-10 - G11C16/04
  • 本公开涉及存储器装置中的联合单层级单元验证。存储器装置中的控制逻辑识别存储器阵列的块中的存储器单元集,其中所述存储器单元集包括在编程操作的编程阶段期间被编程并且与所述存储器阵列的选定字线相关联的两个或更多个存储器单元。所述控制逻辑另外致使在所述编程操作的编程验证阶段期间将编程验证电压施加到所述选定字线;和对所述存储器单元集执行并行感测操作以确定所述存储器单元集中的每一存储器单元是否在所述编程操作的所述编程阶段期间被编程到至少所述编程验证电压。
  • 存储器装置中的联合层级单元验证
  • [发明专利]存储器装置中用于检测读取干扰的牺牲串-CN202211027555.6在审
  • K·K·姆奇尔拉;V·莫斯基亚诺;合田晃;J·S·麦克尼尔;E·N·李 - 美光科技公司
  • 2022-08-25 - 2023-03-03 - G11C16/34
  • 本申请涉及存储器装置中用于检测读取干扰的牺牲串。存储器装置中的控制逻辑确定对所述存储器装置的存储器阵列的块中的多个存储器串中的第一存储器串起始串读取操作,所述块包括多个字线,其中所述多个存储器串中的每一者包括与所述多个字线相关联的多个存储器单元,且其中所述第一存储器串被指定为牺牲串。所述控制逻辑进一步使读取电压同时施加到所述存储器阵列的所述多个字线中的每一者,且在所述读取电压施加到所述多个字线中的每一者时,感测流动通过指定为所述牺牲串的所述第一存储器串的电流电平。另外,所述控制逻辑基于流动通过指定为所述牺牲串的所述第一存储器串的所述电流电平而识别所述块上是否已发生阈值水平的读取干扰。
  • 存储器装置用于检测读取干扰牺牲
  • [发明专利]基于管芯生成的脉冲信号的状态轮询-CN202210859113.1在审
  • E·N·李;D·斯里尼瓦桑 - 美光科技公司
  • 2022-07-20 - 2023-02-03 - G11C16/10
  • 本申请涉及基于管芯生成的脉冲信号的状态轮询。一个存储器系统包含具有多个平面的多个管芯。处理装置耦合到所述管芯并进行控制器操作,所述控制器操作包含接收包括由所述多个管芯的一或多个平面有效化的脉冲的状态指示器信号。响应于接收到所述脉冲,所述处理装置进行以下中的至少一项:由所述多个管芯在轮询延迟期到期时进行的管芯操作的第一状态检查;或响应于检测到所述脉冲被无效化的所述管芯操作的第二状态检查。所述处理装置在所述状态指示器信号保持无效化时终止状态检查的进行。
  • 基于管芯生成脉冲信号状态

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