“A·古佐纳托”申请（专利权）人搜索_中国专利权人_发明人_技术持有人_科研专家_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果3个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]光学光谱仪-CN202180085818.6在审
发明人： L·弗洛姆伯格;H-J·舒吕特;K·阿伊兹科夫;A·古佐纳托 -专利权人：塞莫费雪科学（不来梅）有限公司
申请日： 2021-12-16 - 公布日： 2023-08-29 - 主分类号： G01N21/71 文献下载
摘要：本发明提供了一种用于使用光学光谱仪分析样本的光学光谱学方法。该方法包括使用光学光谱仪获得样本的样本光谱；以及使用光学光谱仪获得空白光谱。空白光谱包括与样本光谱相关的结构化背景辐射。确定样本光谱和空白光谱的互相关性。通过基于互相关性将空白光谱映射到该样本光谱来生成映射空白光谱，并且将映射空白光谱从样本光谱减去以生成背景校正样本光谱。
光学光谱仪

[发明专利]二维光谱中的峰确定-CN202080051603.8在审
发明人： H-J·舒鲁特;A·古佐纳托;N·夸斯;P·怀斯特德 -专利权人：塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
申请日： 2020-07-30 - 公布日： 2022-03-01 - 主分类号： G01N21/27 文献下载
摘要：一种确定光谱中的峰强度的方法，所述方法包括：通过将所述光谱成像到检测器阵列(13)上产生光谱值的二维阵列(20)；选择光谱值的所述阵列中的第一二维子阵列(21)，使得所述子阵列包含所述光谱的第一峰(1)，所述第一峰具有预期位置；在所述第一子阵列(21)内内插所述光谱值以产生第一内插子阵列；通过使用所述第一内插子阵列确定所述第一峰(1)的实际位置；通过使用所述第一峰的所述实际位置和所述预期位置确定偏移；通过使用所述偏移来调整所述光谱的第二峰(2)的预期位置；选择光谱值的所述阵列中的第二二维子阵列(22)，使得所述第二子阵列包含所述第二峰(2)，所述第二峰具有调整后的预期位置；以及在所述第二子阵列(22)内使用内插光谱值以产生所述第二峰的峰强度值。
二维光谱中的确定

[发明专利]用于制造三维构件的机器-CN202110589475.9在审
发明人： G·卡瓦卡博;A·古佐纳托 -专利权人：通快喜丝玛有限责任公司
申请日： 2021-05-28 - 公布日： 2021-12-03 - 主分类号： B29C64/245 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于通过在处理室(22)中使用处理光束(16)选择性地固化粉末状构造材料(29)来制造三维构件(12)的机器，所述机器包括机器基础框架(14)，机器基础框架(14)具有机器框架(31)和可附接在其上的支撑框架(32)，支撑框架(32)容纳至少一个处理室(22)或至少一个构造缸(24)，至少一个接口机构(41)形成在支撑框架(32)和机器框架(31)之间，借助于所述接口机构(41)，支撑框架(32)相对于机器框架(31)被保持。
用于制造三维构件机器