专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]光学材料光弹系数测量装置及测量方法-CN202211667698.3在审
  • 刘卫平;王雷;许荣国;贾云峰;顾高菲 - 西安应用光学研究所
  • 2022-12-23 - 2023-05-23 - G01N21/59
  • 本发明属于光学测量技术领域,公开了一种光学材料光弹系数测量装置及测量方法,装置包括:光源、起偏器、第一调制器、加压装置、第二调制器、检偏器、探测器、信号处理单元和计算机;方法包括:光学材料样块放置在加压装置中,加压装置对样块施加压力,光源出射光通过起偏器,经由第一调制器调制后进入样块,透射光依次通过第二调制器和检偏器后进入探测器,经计算机计算得到样块在该压力下对应的光延迟量,改变加压装置施加的压力并重复上述步骤,根据样块在不同压力下对应的光延迟量,计算得到该光学材料样块的光弹系数。本发明装置测量精度高、应力范围大以及波长覆盖范围广,适于国防军事领域飞行器光学窗口等光学材料的光弹系数测试。
  • 光学材料系数测量装置测量方法
  • [发明专利]基于光谱干涉的超短脉冲时间宽度测量装置和方法-CN201810837815.3有效
  • 江俊峰;刘铁根;张永宁;王双;刘琨;张学智;马喆;顾高菲 - 天津大学
  • 2018-07-26 - 2020-09-11 - G01J11/00
  • 本发明公开了一种基于光谱干涉的超短脉冲时间宽度测量装置和方法,包括待测超短脉冲激光器、50:50分束器,测量光路、参考光路、合束器和光谱分析仪,将待测超短脉冲分成功率相等的两束待测超短脉冲;待测超短脉冲经由测量光路入射至合束器,调节测量光路中待测超短脉冲的时间延时,调节测量光路中待测超短脉冲的偏振态使之与参考光路的待测超短脉冲相匹配;调节参考光路中待测超短脉冲的光功率使之与测量光路输出的待测超短脉冲光功率相同;测量待测超短脉冲光谱干涉振荡程度的变化,计算待测超短脉冲的时间宽度。本发明摒弃了传统超短脉冲时间宽度测量中的基于倍频晶体测量待测超短脉冲二倍频信号强度的方式,测量灵敏度高,同时有较好的适用性。
  • 基于光谱干涉超短脉冲时间宽度测量装置方法

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