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[发明专利]芯片测试数据的解析方法、装置、电子设备及存储介质-CN202310786767.0在审
发明人：陈紫;周浩;钱大君 -专利权人：上海孤波科技有限公司
申请日： 2023-06-29 - 公布日： 2023-09-29 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本发明涉及芯片测试技术领域，尤其涉及芯片测试数据的解析方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：根据STDF、占用空间和解析线程的数量，确定解析线程的解析位置，使各解析线程对STDF中对应解析位置内解析芯片测试信息；芯片测试信息携带有位置信息，并包含芯片的起止测试信息；根据所有解析线程解析得到的起止测试信息，及对应的位置信息确定各解析线程对应目标起止测试信息的目标位置；将所有目标位置发送给对应的解析线程，以使各解析线程对STDF中在目标位置内的测试结果依次进行解析，得到解析后的芯片测试结果。通过本申请的方法，能够通过多个解析线程解析STDF中芯片测试数据，加快了芯片测试数据的解析速度。
芯片测试数据解析方法装置电子设备存储介质

[发明专利]半导体测试数据的查询方法、装置、电子设备及存储介质-CN202310574419.7有效
发明人：王腾;钱大君;马力斯;周浩 -专利权人：上海孤波科技有限公司
申请日： 2023-05-22 - 公布日： 2023-09-19 - 主分类号： G06F16/2455 文献下载
摘要：本申请提供了半导体测试数据的查询方法、装置、电子设备及存储介质，获取目标半导体测试数据集以及对目标半导体测试数据的查询请求；针对于字段抽取请求，从目标半导体测试数据集中确定出目标抽取维度字段对应的数据值集合，基于包含目标抽取维度字段的名称的正则表达式，确定出目标抽取维度字段对应的字段名称列表以及字段值列表；针对于字段组合请求，基于维度字段组合名称确定出维度字段组合名称相对应的第一查询表达式，基于第一查询表达式在目标半导体测试数据集中确定出维度字段组合名称相对应的字段值列表。实现了可以自由的从已有字段中抽取更多动态字段，还可以将多个字段灵活组合成新的字段进行分析，提高了数据查询的便捷性。
半导体测试数据查询方法装置电子设备存储介质

[发明专利]半导体测试数据的处理方法、装置、电子设备及存储介质-CN202310558335.4有效
发明人：印春凯;钱大君;马力斯;周浩 -专利权人：上海孤波科技有限公司
申请日： 2023-05-18 - 公布日： 2023-09-19 - 主分类号： G06F16/248 文献下载
摘要：本申请提供了半导体测试数据的处理方法、装置、电子设备及存储介质，包括：基于用户的查询需求在半导体测试数据库中筛选出查询需求相对应的多个测试数据；基于每个测试数据对应的字段维度，对多个测试数据进行聚合处理，确定出每个测试数据的字段维度相对应的测试数据数组；对多个测试数据数组中的测试数据进行异常测试数据剔除后进行分层抽样处理，确定出多个测试数据中的多个抽样测试数据，测试数据以散点图的形式进行展示，并将抽样测试数据在散点图中的坐标信息进行存储。通过聚合处理、剔除异常测试数据以及分层抽样的方法，在保持样本和原始数据不存在显著性差异的前提下，分层次多步骤降低半导体数据散点图分析场景下应用的负载压力。
半导体测试数据处理方法装置电子设备存储介质

[发明专利]晶圆图配置数据的修正方法、装置、电子设备及存储介质-CN202310841528.0有效
发明人：钱吉成;钱大君;周浩 -专利权人：上海孤波科技有限公司
申请日： 2023-07-11 - 公布日： 2023-09-19 - 主分类号： G06T11/20 文献下载
摘要：本申请提供了晶圆图配置数据的修正方法、装置、电子设备及存储介质，包括：基于历史晶圆的类型以及测试节点对历史晶圆相对应的历史芯片测试数据进行聚合处理，确定历史晶圆相对应的历史芯片测试数据集合；基于历史芯片测试数据集合下的历史芯片在横轴方向上的最大横坐标值、最小横坐标值、在纵轴方向上的最大纵坐标值以及最小纵坐标值，确定出历史晶圆的历史晶圆图配置数据；确定出与历史晶圆的类型以及测试节点相一致的目标晶圆的目标晶圆图配置数据，基于目标晶圆图配置数据对历史晶圆图配置数据进行修正。通过根据目标晶圆图配置数据和历史晶圆图配置数据进行不停修正，从而提高了晶圆图的配置数据的准确性和完整性，保证准确地画出晶圆图。
晶圆图配置数据修正方法装置电子设备存储介质

[发明专利]一种芯片测试数据的实时收集方法、装置及电子设备-CN202311001520.X在审
发明人：杨永欢;钱大君;周浩 -专利权人：上海孤波科技有限公司
申请日： 2023-08-10 - 公布日： 2023-09-12 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本公开提供了一种芯片测试数据的实时收集方法、装置及电子设备，通过提供依次链接的边缘计算服务块、消息中间件以及流处理功能块；驱动所述边缘计算服务块，实时抽取芯片测试过程产生的STDF文件数据，并将所述STDF文件数据发送至所述消息中间件；驱动所述流处理功能块，采用流处理方式从所述边缘计算服务块消费所述STDF文件数据，解析所述STDF文件数据，确定所述STDF文件数据所携带的芯片测试数据，并将所述芯片测试数据发送至预设数据库存储。可以提升芯片测试数据收集的时效性，并在测试过程中同步进行数据分析，提高芯片测试效率。
一种芯片测试数据实时收集方法装置电子设备

[发明专利]一种芯片测试数据的离群值处理方法及装置-CN202310915054.X在审
发明人：王腾;钱大君;马力斯 -专利权人：上海孤波科技有限公司
申请日： 2023-07-24 - 公布日： 2023-09-05 - 主分类号： G06F18/20 文献下载
摘要：本发明提供了一种芯片测试数据的离群值处理方法及装置，通过确定需要处理离群值的目标测试项；获取用户针对所述目标测试项配置的离群值阈值、阈值约束区间以及所述离群值对应的影响范围；根据所述离群值阈值以及所述阈值约束区间，响应于用户选择的离群值处理模式，在所述影响范围内针对所述离群值进行所述处理模式对应的处理。可以提升在芯片测试数据中查找离群值的准确性，并灵活适配不同测试项对离群值的分析与处理需求。
一种芯片测试数据离群处理方法装置

[发明专利]一种数据仓库构建方法及装置-CN202310639512.1在审
发明人：钱吉成;钱大君;马力斯;周浩 -专利权人：上海孤波科技有限公司
申请日： 2023-05-31 - 公布日： 2023-08-15 - 主分类号： G06F16/28 文献下载
摘要：本申请提供一种数据仓库构建方法及装置，该方法包括：获取用于构建数据仓库的半导体测试数据集；根据半导体测试数据集构建三层数据；根据三层数据构建层级指标体系；基于层级指标体系和预设的数据源表在MPP数据库中构建数据仓库。可见，该方法能够构建出一种能够解决数据丢失或者数据重复的问题，且有利于提升半导体测试数据分析效率和性能的数据仓库。
一种数据仓库构建方法装置

[发明专利]一种芯片的质量检测方法、装置、电子设备及存储介质-CN202310425563.4在审
发明人：周代祥;钱大君;马力斯;周浩 -专利权人：上海孤波科技有限公司
申请日： 2023-04-20 - 公布日： 2023-07-18 - 主分类号： G01N33/00 文献下载
摘要：本申请提供了一种芯片的质量检测方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：获取晶圆内与待检测芯片符合的预置位置关系的判定芯片的初始测试结果；根据预设加权矩阵及判定芯片的初始测试结果，计算待检测芯片的判定系数；若待检测芯片为晶圆中的边缘芯片，则比对判定系数和第一预置阈值，得到待检测芯片的质量检测结果；若待检测芯片不为晶圆中的边缘芯片，则比对判定系数和第二预置阈值，得到待检测芯片的质量检测结果；第一预置阈值大于第二预置阈值。通过本申请的方式，能够确定待检测芯片的质量检测结果，不仅提高了质量检测结果的准确率，还提高了芯片质量检测的效率。
一种芯片质量检测方法装置电子设备存储介质

[发明专利]一种文件采集方法及装置-CN202310531044.6在审
发明人：陈紫;钱大君;马力斯;周浩 -专利权人：上海孤波科技有限公司
申请日： 2023-05-12 - 公布日： 2023-06-23 - 主分类号： G06F16/16 文献下载
摘要：本申请提供一种文件采集方法及装置，该方法包括：根据预先配置的采集定时规则启动文件采集定时任务；确定文件采集定时任务的文件采集时间段；在文件采集定时任务下，根据预设的文件存储目录和预设的文件存储平台，对目标存储平台进行文件扫描，得到扫描文件集合；根据文件采集时间段对扫描文件集合进行时间段过滤，得到第一文件集合；根据预设的文件类型筛选规则，对第一文件集合进行筛选处理，得到第二文件集合；对第二文件集合进行转换解压处理，得到目标文件集合。可见，该方法能够灵活快速的进行文件数据采集，适配多样的文件存储环境和目录，且能够避免数据丢失、数据重复等问题。
一种文件采集方法装置

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