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专利名称

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申请人
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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]半导体测试数据的处理方法、装置、电子设备及存储介质-CN202310558335.4有效
发明人： 印春凯;钱大君;马力斯;周浩 -专利权人：上海孤波科技有限公司
申请日： 2023-05-18 - 公布日： 2023-09-19 - 主分类号： G06F16/248 文献下载
摘要：本申请提供了半导体测试数据的处理方法、装置、电子设备及存储介质，包括：基于用户的查询需求在半导体测试数据库中筛选出查询需求相对应的多个测试数据；基于每个测试数据对应的字段维度，对多个测试数据进行聚合处理，确定出每个测试数据的字段维度相对应的测试数据数组；对多个测试数据数组中的测试数据进行异常测试数据剔除后进行分层抽样处理，确定出多个测试数据中的多个抽样测试数据，测试数据以散点图的形式进行展示，并将抽样测试数据在散点图中的坐标信息进行存储。通过聚合处理、剔除异常测试数据以及分层抽样的方法，在保持样本和原始数据不存在显著性差异的前提下，分层次多步骤降低半导体数据散点图分析场景下应用的负载压力。
半导体测试数据处理方法装置电子设备存储介质

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