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[发明专利]一种晶元的检测方法和装置、电子设备、存储介质-CN202010001380.6有效
发明人：郑先意;郑炜融;赵隔隔 -专利权人：长江存储科技有限责任公司
申请日： 2020-01-02 - 公布日： 2023-07-07 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本公开提供一种晶元的检测方法和装置、电子设备、存储介质。该方法包括：采集加工过程中晶元的图像，其中，图像包括缺陷点，以及与缺陷点对应的坐标信息，依次对图像进行降噪处理、变换处理和特征提取处理，得到与图像对应的特征信息，根据特征信息生成与晶元对应的刮痕信息，通过采用图像识别技术对图像进行识别处理得到特征信息，可以避免因人工的方式识别造成的准确度低等问题，从而实现提高识别的准确性和可靠性，并提高识别的效率，且节约人力成本的技术效果，且通过基于特征信息生成刮痕信息，避免了现有技术中通过人工结合Excel划线工具时造成的效率低和准确度低的问题，进而实现提高确定刮痕信息的效率和准确度的技术效果。
一种检测方法装置电子设备存储介质

[发明专利]闪存编程参数确定方法、装置、电子设备及存储介质-CN202010002876.5有效
发明人：董亮;付祥;李永安;郑炜融;杨海峰 -专利权人：长江存储科技有限责任公司
申请日： 2020-01-02 - 公布日： 2022-05-24 - 主分类号： G11C16/10 文献下载
摘要：本申请提供一种闪存编程参数确定方法、装置、电子设备及存储介质。本申请提供的闪存编程参数确定方法，包括：先执行第一编程参数组后生成第一测试结果文件，然后根据第一测试结果以及预设遗传算法确定第二编程参数组，再执行第二编程参数组以生成第二测试结果文件，并进行循环优化，从而最后根据多个编程参数组、每个编程参数组对应的测试结果以及预设聚类算法确定预配置编程参数组，其中，预配置编程参数组用于配置闪存的各个编程参数。本申请提供的闪存编程参数确定方法，可以快速高效地调整编程参数，达到缩短闪存编程参数优化时间的目的，减少在闪存开发过程中预配置编程参数组确定过程中的人力投入。
闪存编程参数确定方法装置电子设备存储介质

[发明专利]用于调度半导体加工的方法和系统-CN202080000366.2有效
发明人： 郑炜融;王河清 -专利权人：长江存储科技有限责任公司
申请日： 2020-02-21 - 公布日： 2021-03-12 - 主分类号： G06F9/50 文献下载
摘要：一种半导体加工调度方法，所述方法包括：创建负载调度数据模式，所述负载调度数据模式包括将被分派到多个工作站的产品批次的设施数据；使用负载平衡模型并且基于负载调度数据模式生成负载调度简档，其中负载平衡模型包括一个或多个目标函数，并且在目标函数中存在至少一个权重因子；基于负载调度简档生成当前负载调度；使用当前负载调度将产品批次分派到多个工作站，以完成产品批次的加工；获取产品批次的所完成的加工的当前关键性能指标(KPI)集合；以及基于使用大数据架构的当前KPI，自动地调整负载平衡模型的目标函数的权重因子，以生成下一加工周期的下一负载调度。
用于调度半导体加工方法系统

[发明专利]样本的工艺参数的检测方法和装置-CN202010001414.1在审
发明人：万星星;杨海峰;王璠;郑炜融 -专利权人：长江存储科技有限责任公司
申请日： 2020-01-02 - 公布日： 2020-06-02 - 主分类号： G01D21/00 文献下载
摘要：本申请提供一种样本的工艺参数的检测方法和装置。该方法包括：确定最小样本量，最小样本量与工艺参数所服从的分布、第一类错误的概率以及第二类错误的概率相关联；从总样本中选取子样本，子样本的数量大于或等于最小样本量；对子样本的工艺参数进行检测，检测结果用于表示总样本的工艺参数是否满足参数标准。从而，提高了估计样本量的准确度，保证了检测结果具有较高的可信度。
样本工艺参数检测方法装置