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[发明专利]面向Δ∑ADC的小信号处理低开销运算放大器-CN202210226443.7在审
发明人：谭瑾慧;邝继顺;胡星;肖林 -专利权人：湖南大学
申请日： 2022-03-09 - 公布日： 2022-06-03 - 主分类号： H03F1/42 文献下载
摘要：面向Δ∑ADC的小信号处理低开销运算放大器，涉及模拟集成电路技术领域，其包括晶体管级电路、偏置电压产生电路和输出CMFB，偏置电压产生电路为晶体管提供栅极电压，输出CMFB用于纠正差分晶体管的电流中的任何不匹配，晶体管级电路采用两级级联结构，第一级采用增益增强的折叠共源共栅结构和小的偏置电流以实现高增益并减小面积开销，第二级采用偏置电流源负载共源结构和大的偏置电流并应用大的过驱动电压以保证单位增益带宽及降低面积开销。本发明通过对运算放大器中晶体管级电路结构的改进，大大简化了版图布局，减少了面积浪费，解决了在高增益与单位增益带宽的前提下面积开销过大的问题。
面向 adc 信号处理开销运算放大器

[发明专利]一种短路式电容分裂结构的压电能量采集整流器-CN201610038198.1有效
发明人： 邝继顺;吴了;尤志强;凌纯清 -专利权人：湖南大学
申请日： 2016-01-21 - 公布日： 2018-01-16 - 主分类号： H02M7/12 文献下载
摘要：本发明公开了一种短路式电容分裂结构的压电能量采集整流器，包括两个有源二极管、两个电容、一个电感、一个开关、一个电压过零检测及数字电路控制模块。其中一对有源二极管在压电端输出电流的驱动下，自动完成互补带死区时间的导通/截止操作，一旦二极管检测到流经的电流从正到负的过零点，该二极管被关断，另一个二极管被打开，每个有源二极管输出与之对应的一位开关状态信号。其中两个电容堆叠放置，分离正/负半周期输出，并维持相对稳定的输出电压。其中一个电感与压电设备串联，然后与开关并联，开关短暂导通翻转压电端电容电压。其中电压过零检测及数字电路控制模块接受所述有源二极管的开关状态信号，并且检测压电端电压过零点，最优化地控制开关的导通时长。
一种短路电容分裂结构压电能量采集整流器

[发明专利]一种优化翻转时间的压电能量采集整流器-CN201610020820.6有效
发明人： 邝继顺;吴了;尤志强;凌纯清 -专利权人：湖南大学
申请日： 2016-01-13 - 公布日： 2018-01-16 - 主分类号： H02M7/155 文献下载
摘要：本发明公开了一种优化翻转时间的压电能量采集整流器。该整流器包括两个有源二极管，有源二极管根据流经的电流方向确定其截止/导通状态，并输出一位开关状态信号；该整流器包括一个数字电路控制模块，该模块根据所述有源二极管输出的开关状态信号生成时钟信号；该整流器包括两个开关，开关接收所述的时钟信号进行开/关操作；该整流器还包括两个被动二极管和一个电感，在所述数字控制单元的控制下，最优化地翻转压电设备的电容电压。
一种优化翻转时间压电能量采集整流器

[发明专利]一种开路式优化翻转时间的压电能量采集整流器-CN201610037866.9在审
发明人： 邝继顺;吴了;尤志强;凌纯清 -专利权人：湖南大学
申请日： 2016-01-21 - 公布日： 2016-06-01 - 主分类号： H02M7/12 文献下载
摘要：本发明公开了一种开路式优化翻转时间的压电能量采集整流器，包括两个有源二极管、两个开关、一个电感、一个峰值检测及数字电路控制模块。其中一对有源二极管进行互补的导通/截止操作，一旦某个二极管检测到从正到负流经电流的过零点，该二极管被关断，与之相对的另一个二极管被打开，每个有源二极管输出与之对应的一位开关状态信号。其中一个峰值检测及数字电路控制模块接收所述有源二极管的开关状态信号，并检测有源二极管阴极的电压峰值，输出优化脉宽的脉冲信号。其中两个开关接受所述峰值检测及数字电路控制模块的脉冲信号，进行开/关操作。其中一个电感与压电设备进行串联，并连接到整流器输入端，在所述峰值检测及数字电路控制模块的控制下，最优化地翻转压电设备的电容电压，同时传输能量到负载。
一种开路优化翻转时间压电能量采集整流器

[发明专利]一种斜率可配置的斜坡补偿与求和电路-CN201010246001.6无效
发明人：李少青;邝继顺;吴了;张民选;张明;何小威;孙岩;乐大珩 -专利权人：中国人民解放军国防科学技术大学
申请日： 2010-08-05 - 公布日： 2012-02-08 - 主分类号： H03L1/00 文献下载
摘要：在峰值电流模DC/DC开关电源中，斜坡补偿技术提高了电流内环的稳定性和响应速度。本发明公开了一种基于开关电容电路的斜坡补偿电路，仅使用一个放大器同时实现了感应电压放大、斜坡补偿与感应电压求和的功能，并且补偿斜率可配置，大大简化了电路设计，降低了设计的电路对工艺的敏感性。本发明中的电路由可配置斜率斜坡产生源与开关电容加法放大器构成。
一种斜率配置斜坡补偿求和电路

[发明专利]基于单位面积加速比的可重构资源管理方法-CN201010022083.6有效
发明人：李仁发;陈宇;徐成;吴强;刘彦;朱海;袁虎;钟俊;刘滔;邝继顺;李蕊;李肯立;罗娟;赵欢;杨科华;任小西;杨书凡;彭日光;李春江;黄瑜臣;张维;李浪 -专利权人：湖南大学
申请日： 2010-01-19 - 公布日： 2010-08-11 - 主分类号： G06F9/46 文献下载
摘要：本发明提供了一种基于单位面积加速比的可重构资源管理方法，该可重构资源管理方法应用在可重构资源二维模型上，第一步，将任务就绪队列Qr按最迟执行时间d升序排列，并保存到L1中；然后将Qr按单位面积加速比降序排列，保存到L2中；第二步，检查L2，如果为空则调度结束，否则进入下一步；第三步：扫描任务就绪队列，若该任务为关键任务，进入第四步，否则该任务为非关键任务，进入第五步；第四步：调度关键任务；第五步：调度非关键任务；采用该方法，较之现有的可重构资源管理的调度算法的复杂度低，且任务平均响应时间方面的性能明显优于其他的现有的调度算法。
基于单位面积速比可重构资源管理方法

[发明专利]考虑硬件预配置因素的动态软硬件划分方法-CN201010022085.5有效
发明人：李仁发;陈宇;徐成;吴强;刘彦;朱海;袁虎;钟俊;刘滔;邝继顺;李蕊;李肯立;罗娟;赵欢;杨科华;任小西;杨书凡;彭日光;李春江;黄瑜臣;张维;李浪 -专利权人：湖南大学
申请日： 2010-01-19 - 公布日： 2010-06-30 - 主分类号： G06F9/50 文献下载
摘要：本发明提供了一种考虑硬件预配置因素的动态软硬件划分方法，其特征在于，在程序运行过程中，进行动态的软硬件划分，在可重构硬件资源上进行一个或多个函数的配置，对待划分函数维护一个待划分函数列表list(f1，…，fm)，其中fk为定义硬件加速比，k为待划分的一个函数；k＝1，…，m，m为待划分函数个数，基于硬件加速比对函数配置，并且考虑到硬件预配置因素。本发明基于硬件加速比对函数进行动态软硬件配置，充分利用了系统的硬件资源，从而显著提高整个系统的任务处理效率。
考虑硬件配置因素动态软硬件划分方法

[发明专利]一种过程级软硬件协同设计自动化开发方法-CN201010022084.0有效
发明人：李仁发;陈宇;徐成;吴强;刘彦;朱海;袁虎;钟俊;刘滔;邝继顺;李蕊;李肯立;罗娟;赵欢;杨科华;任小西;杨书凡;彭日光;李春江;黄瑜臣;张维;李浪 -专利权人：湖南大学
申请日： 2010-01-19 - 公布日： 2010-06-30 - 主分类号： G06F9/44 文献下载
摘要：本发明提供了一种过程级软硬件协同设计自动化开发方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1：利用高级语言完成系统功能描述，系统功能描述中包括软硬件协同函数的调用；步骤2：软硬件函数的动态划分；步骤3：链接和执行步骤；步骤4：判断和结束步骤；判断是否所有的函数执行完毕，如果执行完毕就结束，否则返回用于划分的参数到步骤2进入下一次循环。本发明使用过程级软硬件统一编程模型，来屏蔽底层硬件实现的差异，达到可重构器件对程序用户透明的目的。该编程模型将硬件加速器封装成C语言函数，方便用户编程，且支持运行时的动态软硬件划分，使划分对程序员透明，提高了可重构资源的利用率。
一种过程软硬件协同设计自动化开发方法

[发明专利]软硬件协同函数库的构造方法-CN200910226667.2有效
发明人：李仁发;陈宇;徐成;吴强;刘彦;朱海;袁虎;钟俊;刘滔;邝继顺;李蕊;李肯立;罗娟;赵欢;杨科华;任小西;杨书凡;彭日光;李春江;黄瑜臣;张维;李浪 -专利权人：湖南大学
申请日： 2009-12-18 - 公布日： 2010-05-12 - 主分类号： G06F9/46 文献下载
摘要：本发明提供了一种软硬件协同函数库的构造方法，其特征在于，包括以下步骤：首先为软硬件协同函数声明一个对外接口；软硬件协同函数是对同一功能的不同方式实现：软件函数的实现是以软件编码方式实现，硬件的实现则是由硬件接口代码和函数功能实现的硬件配置文件构成；将软件函数和硬件接口代码封装在一起，并与硬件实现方式的配置文件一起构成软硬件协同函数，由多个软硬件协同函数，形成一个抽象的软硬件协同函数库；形成的函数库可以在其他程序中调用。采用该方法构造的软硬件系统函数库便于软件人员开发嵌入式系统时忽略软硬件函数的差异、提高编程效率。
软硬件协同函数库构造方法

[发明专利]集成电路全速电流测试方法-CN03125125.0有效
发明人：闵应骅;邝继顺;牛小燕 -专利权人：中国科学院计算技术研究所
申请日： 2003-05-21 - 公布日： 2003-10-22 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明涉及集成电路测试方法，其步骤包括：第一步，确定测试频率，第二步确定测试波形模式，第三步，确定可测试性测度及其阈值，第四步，测试波形生成，第五步，运行测试。本发明也可以检测一些用逻辑测试方法不可检测的故障，即所谓的冗余故障。测试效率高，适应于大批量集成电路芯片生产线的需要；不需要特别高指标的昂贵的测试仪；故障覆盖率高，适应于国防、航空航天等高可靠芯片的需求。本发明提供了对于高达几个GHz的高频数字CMOS集成电路，直接用其工作频率进行全速电流测试的方法，而测试周期可以灵活地根据测试仪的测试速度而定，可以慢到毫秒级。
集成电路全速电流测试方法

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