专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种串行EEPROM存储器验证系统及验证方法-CN202310923418.9在审
  • 刘强;赵五喜;黄运隆;张杨钧;高愿 - 西安太乙电子有限公司;北京控制与电子技术研究所
  • 2023-07-25 - 2023-10-24 - G11C16/10
  • 本发明公开了一种串行EEPROM存储器验证系统及验证方法,包括:通过分析待测器件的应用场景和器件特性预设上位机流程控制程序;并通过电装配试验验证待测器件装联适应性;将主控区的待测器件输出信息传至待测区的待测器件内;对待测器件写入读出功能及电源电压范围验证功能性能测试完整性;对装配好的主控区和待测区进行器件环境适应性验证;对验证数据和结论进行分析,得到待测器件成熟度等级和可用度等级;本发明针对性的验证评价器件板级电装联性能和板级的功能、性能及器件在板级工作状态下的热学、力学环境适应性能,更接近于实际应用工况,更具有针对性,能有效的提前暴露器件在板应用的薄弱环节和异常性能,有利于促进器件的推广和应用。
  • 一种串行eeprom存储器验证系统方法
  • [发明专利]一种用于站台滑动门的锁闭装置-CN202310596002.0在审
  • 赵五喜;张超 - 北京榭菲特科技有限公司
  • 2023-05-24 - 2023-07-14 - E05B65/08
  • 本发明和公开了一种用于站台滑动门的锁闭装置,其包括:安装座、两个锁舌、解锁机构和两个锁定机构;解锁机构包括电磁铁、驱动块和两个曲柄连杆;锁定机构包括两个锁板、传动锁杆和锁体,所述锁体包括一个回转锁片,锁舌端部插入锁体可以推动回转锁片转动并与之锁合,回转锁片转动使传动锁杆向下运动,并且在解锁机构的复位力作用下使锁板与传动锁杆在锁闭位置锁合;解锁是通过电磁铁得电使其带动驱动块向上运动,通过曲柄连杆带动锁板脱离与传动锁杆的锁闭位置,同时锁舌可以从回转锁片中脱离,从而实现滑动门的解锁。本发明具有结构设计合理,具有良好的可靠性和稳定性。
  • 一种用于站台滑动装置
  • [发明专利]一种集成电路老炼方案功能验证装置-CN202010366573.1有效
  • 邵勇;赵五喜;张燕 - 西安太乙电子有限公司
  • 2020-04-30 - 2023-02-24 - G01R31/28
  • 本发明公开一种集成电路老炼方案功能验证装置,该装置结构简单,使用方便,适用于不同封装、不同类型集成电路的老炼试验的方案验证及功能测试。采用老炼转接板、基板与多个集成电路封装夹具板相结合的构造,能够对不同集成电路进行功能试验和方案验证评估。该装置可以将设定的信号从老炼设备上提炼到转接板上,再由转接板提供到基板上,在基板上利用阵列插孔搭接集成电路的外围器件,不需要焊接,快速组成电路典型用法,验证老炼方案,该装置在制作老炼板前就对集成电路的老炼方案进行充分验证,在采购插座的同时,就能保证老炼板的有效制作。
  • 一种集成电路方案功能验证装置
  • [实用新型]一种用于DDR2存储器的高温动态老炼试验系统-CN202122862302.8有效
  • 徐亚涛;赵文虎;赵五喜 - 西安太乙电子有限公司
  • 2021-11-19 - 2022-04-08 - G11C29/56
  • 本实用新型公开了一种用于DDR2存储器的高温动态老炼试验系统,包括老炼板、转接头、控制板及上位机;待测DDR2存储器安装在老炼板上,转接头的一端与老炼板连接;转接头的另一端与控制板连接;控制板还与上位机连接;安装有待测DDR2存储器的老炼板设置在高温试验区,控制板设置在常温区;上位机,用于对控制板的上电及下电进行控制,并对回检信号进行显示;本实用新型通过转接头将老炼板与控制板相接,实现对老炼板与控制板的分区设置,避免了控制器陪练,突破了试验温度的限制;待测器件更换时,对老炼板与控制板进行成套更换,实现对待测期间进行高温动态老炼的测试要求,确保了实验温度的达标,保证了测试结果的准确性。
  • 一种用于ddr2存储器高温动态试验系统
  • [发明专利]一种存储器老炼测试的电路板及方法-CN202010301192.5在审
  • 赵五喜;刘刚奇;孟楠;张燕 - 西安太乙电子有限公司
  • 2020-04-16 - 2020-07-28 - G11C29/56
  • 一种存储器老炼测试的电路板及方法,电路板包括老炼主板,老炼主板上设置有主控制器和老炼辅板,老炼辅板上设置有主辅板接插件,老炼被测存储器安装在主辅板接插件上,主辅板接插件通过主板资源引出接口模块连接主控制器,所述的主控制器连接程序存储器,程序存储器中设置有老炼向量,主控制器通过输出结果指示模块显示老炼被测存储器是否正常工作,主控制器通过设置在老炼主板上的主控制器电源电路进行供电。本发明存储器老炼测试的电路板能够产生不同频率的高速时钟信号,能够模拟被测存储器实际使用工作状态,能够实现器件内部高覆盖率的逻辑节点翻转,检测老炼板上每一只器件所有管脚的输入激励信号和输出信号,实际使用中方便易用。
  • 一种存储器测试电路板方法

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