“谢曳华”申请（专利权）人搜索_中国专利权人_发明人_技术持有人_科研专家_钻瓜专利网_中国专利网

首页在售求购查询申请展会资讯专利榜企服商城升级VIP

立即登录免费注册

在售专利
求购专利
查询专利
新闻资讯
技术展会
招商加盟
专利榜

本网专利代理业务由天津创信方达专利代理事务所(普通合伙)承接机构代码：12247 本网专利代理业务由天津创信方达专利代理事务所(普通合伙)承接机构代码：12247 本网专利代理业务由天津创信方达专利代理事务所(普通合伙)承接机构代码：12247

本网专利代理业务由天津创信方达专利代理事务所(普通合伙)承接机构代码：12247 本网专利代理业务由天津创信方达专利代理事务所(普通合伙)承接机构代码：12247 本网专利代理业务由天津创信方达专利代理事务所(普通合伙)承接机构代码：12247

专利名称

专利名称
专利号码
专利分类
申请人
公布日期

农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

专利下载VIP

公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

钻瓜专利网为您找到相关结果6个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[实用新型]半导体激光器件自动化目检的分拣装置-CN202223606638.9有效
发明人： 谢曳华;胡海 -专利权人：深圳瑞波光电子有限公司
申请日： 2022-12-29 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： B07C5/36 文献下载
摘要：本申请提供一种半导体激光器件自动化目检的分拣装置。其中，该分拣装置用于分拣管座，分拣装置包括：检验机构，用于采集管座的第一像素信息，并将第一像素信息与预设像素信息进行比对，基于对比结果确定管座是否合格；底座，设置有检验区及放置区，检验区和放置区设置在检验机构的下方，底座用于放置管座；搬运机构，位于底座上方，其与检验机构连接，搬运机构用于将经检验机构检测合格的管座搬运至放置区。通过上述方式，该装置可实现对管座的自动目检和分拣，无需大量的人工及设备，有效的减少了管座的目检和分拣成本。该装置能在极短的时间内，对大批量的管座进行目检和分拣，可以提高管座的筛选效率。
半导体激光器自动化分拣装置

[实用新型]激光治疗设备-CN202223022191.0有效
发明人：张春杨;胡海;谢曳华 -专利权人：深圳瑞波光电子有限公司
申请日： 2022-11-14 - 公布日： 2023-06-27 - 主分类号： A61N5/067 文献下载
摘要：本申请公开了一种激光治疗设备，属于医疗设备技术领域。激光治疗设备包括激光器、支架、第一反射镜以及第二反射镜。其中，第一反射镜安装在支架上，第二反射镜与第一反射镜相对设置，第二反射镜滑动设置在支架上。本申请提供的激光治疗设备，通过第二反射镜在支架上的滑动以改变第二反射镜与第一反射镜之间的相对距离，从而实现激光器发射的激光束经第一反射镜以及第二反射镜反射后在患者不同的治疗位之间移动。由于第一反射镜以及第二反射镜的体积相对较小、方便制造，从而使得激光治疗设备的体积小、制造简单，可降低激光治疗设备的生产成本。
激光治疗设备

[发明专利]一种测试方法、系统、电子设备及存储介质-CN202210837608.4在审
发明人： 谢曳华;胡海;刘文斌;程珠敏 -专利权人：深圳瑞波光电子有限公司
申请日： 2022-07-15 - 公布日： 2022-10-25 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种测试方法、系统、电子设备及存储介质，应用于半导体激光器件，测试方法包括：对半导体激光器件上电；在上电后的至少一时段对半导体激光器件进行检测，以得到对应至少一时段的至少一检测数据；其中，至少一时段根据半导体激光器件的热传导路径、以及热传导路径上的至少一种材料确定；对至少一检测数据进行分析，以得到半导体激光器件的测试结果。本发明可在同一设备中对裸芯片和封装器件进行分时段的性能测试以评估芯片本身和封装散热性能，同时不需要增加散热填充介质，帮助提高器件筛选效率、测试重复性并降低量产测试成本。
一种测试方法系统电子设备存储介质

[实用新型]一种芯片检测装置-CN202121788260.1有效
发明人：赵楚中;谢曳华;胡海;刘文斌 -专利权人：深圳瑞波光电子有限公司
申请日： 2021-08-02 - 公布日： 2022-02-01 - 主分类号： B07C5/342 文献下载
摘要：本申请公开了一种芯片检测装置。该芯片检测装置包括：承载件，用于承载待测芯片的底面；检测组件，用于从待测芯片的底面和顶面的一侧获取待测芯片的各待测面的影像；反射件，设置于待测芯片的一侧，用于将待测芯片的侧面的影像反射至检测组件。通过检测组件和反射件对承载于承载件上的待测芯片的各待测面进行无接触目检，本申请提供芯片检测装置能够有效降低芯片在检测过程中受损的风险，并可有效地提升芯片的良率和检测效率。
一种芯片检测装置

[发明专利]半导体激光器、巴条及制作方法-CN202010431954.3有效
发明人：胡海;谢曳华;邱于珍 -专利权人：深圳瑞波光电子有限公司
申请日： 2020-05-20 - 公布日： 2022-01-11 - 主分类号： H01S5/028 文献下载
摘要：本发明公开了半导体激光器、巴条及制作方法，其中，半导体激光器，包括：衬底；外延结构，覆盖于所述衬底的上表面；第一绝缘层，覆盖于所述外延结构的上表面，并在厚度方向开设有贯穿的电流注入窗口；第一电极，覆盖于所述第一绝缘层的上表面以及所述外延结构通过所述电流注入窗口外露的部分的上表面；第二绝缘层，在对应所述电流注入窗口位置处覆盖于所述第一电极的上表面，在所述第一绝缘层上的投影的外轮廓与所述电流注入窗口的边缘相对应，以使得所述第二绝缘层可以部分或全部地抵消所述第一绝缘层在所述电流注入窗口的边缘处对所述外延结构产生的应力。通过上述方式，本发明能够减小工艺过程中引入的应力对半导体材料造成的影响。
半导体激光器制作方法

[发明专利]一种芯片检测装置-CN202110881340.X在审
发明人：赵楚中;谢曳华;胡海;刘文斌 -专利权人：深圳瑞波光电子有限公司
申请日： 2021-08-02 - 公布日： 2021-11-02 - 主分类号： B07C5/342 文献下载
摘要：本申请公开了一种芯片检测装置。该芯片检测装置包括：承载件，用于承载待测芯片的底面；检测组件，用于从待测芯片的底面和顶面的一侧获取待测芯片的各待测面的影像；反射件，设置于待测芯片的一侧，用于将待测芯片的侧面的影像反射至检测组件。通过检测组件和反射件对承载于承载件上的待测芯片的各待测面进行无接触目检，本申请提供芯片检测装置能够有效降低芯片在检测过程中受损的风险，并可有效地提升芯片的良率和检测效率。
一种芯片检测装置

1
共 6 条

友情链接：交换友情链接需要网站权重大于4，网站收录10W以上，如符合条件，请联系QQ：76009968。

关于我们寻求报道投稿须知广告合作版权声明网站地图友情链接企业标识联系我们

在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

版权所有钻瓜科技（天津）有限公司津ICP备15000985号津公网安备 12019202000206号http://www.vipzhuanli.com/公布日期

咨询在线客服

咨询在线客服

tel code back_top