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[发明专利]存储装置及其制造、测试和数据保护方法-CN202310099881.6在审
发明人： 裴聪健 -专利权人：长江存储科技有限责任公司
申请日： 2021-04-15 - 公布日： 2023-05-05 - 主分类号： G11C29/36 文献下载
摘要：本公开提供了存储装置及其制造、测试和数据保护方法。根据本公开的一种制造存储装置的方法，存储装置包括封装有控制器和存储器的封装部，以及从封装部暴露出的测试引脚，该方法包括：将控制器和/或存储器中功能电路引出端对应的测试焊盘与测试引脚连接；以及配置控制器，使得控制器能够响应于施加至测试引脚、并经由测试焊盘接收到的激励信号，触发对功能电路的测试。
存储装置及其制造测试数据保护方法

[发明专利]存储装置及其制造、测试和数据保护方法-CN202110404823.0有效
发明人： 裴聪健 -专利权人：长江存储科技有限责任公司
申请日： 2021-04-15 - 公布日： 2023-02-28 - 主分类号： G11C29/36 文献下载
摘要：本公开提供了存储装置及其制造、测试和数据保护方法。根据本公开的一种制造存储装置的方法，存储装置包括封装有控制器和存储器的封装部，以及从封装部暴露出的测试引脚，该方法包括：将控制器和/或存储器中功能电路引出端对应的测试焊盘与测试引脚连接；以及配置控制器，使得控制器能够响应于施加至测试引脚、并经由测试焊盘接收到的激励信号，触发对功能电路的测试。
存储装置及其制造测试数据保护方法

[实用新型]芯片测试结构以及芯片测试系统-CN202122978266.1有效
发明人：邹玉生;裴聪健 -专利权人：长江存储科技有限责任公司
申请日： 2021-11-29 - 公布日： 2022-08-16 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本申请公开了一种芯片测试结构以及芯片测试系统，芯片测试结构包括电路板、导线组以及连接端口。导线组安装于电路板，导线组包括第一线路、第二线路以及第三线路，第一线路的第一端与待测芯片的芯片信号接口点电连接，第二线路的第一端与第一线路的第二端电连接，第二线路的第二端与测试主机电连接，第三线路的第一端与第一线路的第二端电连接，第三线路的第二端与连接端口电连接，以使测试主机与待测芯片、测试主机与连接端口以及待测芯片与连接端口的连接线路中的阻抗与传输信号匹配；同时将待测芯片的芯片信号接口点引出至连接端口且与连接端口电连接，以保证待测芯片正常工作的前提下，便于测试设备通过连接端口与芯片信号接口点电连接。
芯片测试结构以及系统

[发明专利]芯片、电子设备-CN201910862315.X有效
发明人：徐晓东;裴聪健 -专利权人：长江存储科技有限责任公司
申请日： 2019-09-11 - 公布日： 2021-12-28 - 主分类号： H01L23/367 文献下载
摘要：本申请提供了一种芯片、电子设备。芯片包括基材、功能模组、及导热装置。基材包括基板和承载于基板的多个第一焊接球。功能模组和第一焊接球分别设于基板相对的两侧。导热装置包括第一导热件与导热线，第一导热件与第一焊接球分别设于基板相对的两侧，且第一导热件连接功能模组。导热线连接第一导热件与多个第一焊接球。通过在芯片中增设导热装置，并使第一导热件连接功能模组，导热线连接第一导热件与多个第一焊接球，从而将功能模组与基材中的第一焊接球连接起来，进而使功能模组中产生的热量可以通过第一导热件与导热线传导至焊接球上，将芯片内部的热量传导至芯片外部，来减少芯片内部的热量从而实现散热，提高芯片的散热性能与使用寿命。
芯片电子设备

[发明专利]接口扩展模组、老化测试系统、老化测试方法及存储介质-CN201810765627.4在审
发明人：汝峰;徐晓东;裴聪健;冯宇飞 -专利权人：长江存储科技有限责任公司
申请日： 2018-07-12 - 公布日： 2018-11-30 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种老化测试的接口扩展模组、老化测试系统、老化测试方法及存储介质。老化测试的接口扩展模组，包括：扩展组件，用于将老化测试设备提供的一组测试信号转换为N组控制信号，并将被测设备提供的N组第一状态信号转换为一组第二状态信号，其中，一组所述控制信号用于一个所述被测设备的老化测试控制；所述第一状态信号为所述被测设备基于老化测试的状态产生的；N为不小于2的正整数；第一端口，与所述扩展组件连接，用于与所述老化测试设备的测试接口连接，并接收所述测试信号及向所述老化测试设备提交所述第二状态信号；第二端口，与所述扩展组件连接，用于与所述被测设备连接，输出所述控制信号及接收所述第一状态信号。
老化测试状态信号被测设备老化测试设备接口扩展扩展组件模组老化测试系统测试信号存储介质控制信号组控制信号测试接口状态产生正整数转换输出